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XS128ATD数转换模块整理后资料
一、ATDCTL0控制寄存器0,在多通道AD转换方式下才有效。
? Bit7 Bit6 Bit5 Bit4 Bit3 Bit2 Bit1 Bit0 读 保留 0 0 0 WRAP3 WRAP2 WRAP1 WRAP0 写 ? ? ? 复位 0 0 0 0 1 1 1 1 WRAP [ 3 : 0 ]ATDCTL5的MULT位为1。如下表对应的通道,在多通道转换模式下,当完成对第x个模拟输入通道ANx的ATD转换后,下一个ATD转换通道将回绕到第0个通道AN0,而不是ANx+1通道。
WRAP [ 3 : 0 ]=0 ? ??Reserved
WRAP [ 3 : 0 ]=1 ? ??AN1
WRAP [ 3 : 0 ]=2 ? ? AN2
.......................................
WRAP [ 3 : 0 ]=F ? ? AN15
看完全部寄存器后再看红字部分。
WRAP AROUND(环绕)的概念是指当MULT=1时,在一个检测序列中,当WARPx位所指定的通道转换完成后,下一个检测通道会变为AN0。举例说明:如果WRAP3~WRAP0的值为11(AN11),S8C~S1C的值为5,即一个序列进行5次转换;而CD~CA的值为9,即从通道AN9开始进行检测,那么第二个进行检测的通道是AN10,第三个是AN11;AN11转换完成后,则第四个采样通道变为AN0,第五个则是AN1。这样一个转换序列就完成了。如果SCAN=1,那么第二次转换序列又从AN9开始采样,其后的顺序与上一次完全相同。当然还有另外一种情况。比如你通过WRAPx和CD~CA的设置将转换通道设置为AN0~AN5,而将每个序列的转换数设置为8,这样在每个序列的转换中,AN0和AN1将被转换2次(假设AN0是首次转换通道)。这在有些应用中是很好的功能,因为有些应用需要在一次转换中对某些通道进行多次采样。二、ATDCTL11
? Bit7 Bit6 Bit5 Bit4 Bit3 Bit2 Bit1 Bit0 读/写 ETRIGSEL SRES1 SRES0 SMP_DIS ETRIGCH3 ETRIGCH2 ETRIGCH1 ETRIGCH0 复位值 0 1 0 0 1 1 1 1 RES1和SRES0用于设置AD转换的精度,相应精度设置如下表:
SRES1 SRES0 精度 0 0 8位 0 1 10位 1 0 12位 1 1 Reserved ETRIGSEL是外部触发源选择位。
ETRIGSEL=0时,ETRIGCH[3:0]用于选择相应的AD转换通道。对于112引脚封装的芯片,就对16个AD转换通道与之相对应。但对于80引脚封装的芯片,就只有0~7八个通道了。就是决定外部触发引脚,前提就是决定的那个口是可用的。
当ETRIGSEL=1时,出厂测试用不考虑全当无用。
三、ATDCTL22
? Bit7 Bit6 Bit5 Bit4 Bit3 Bit2 Bit1 Bit0 读 0 AFFC ICLKSTP ETRIGLE ETRIGP ETRIGE ASCIE ACMPIE 写 ? 复位值 0 0 0 0 0 0 0 0 AFFC是快速清零位。置1时,读转换结果寄存器,会使标志位CCF[n]自动清零;CMPE[n]=1时,写转换结果寄存器,会使标志位CCF[n]自动清零。置0时,则需要向CCF[n]写1来清除标志位,也就是需要软件清零。
ICLKSTP1时,在停止模式下,ATD模块可以继续使用模块内部时钟ICLK进行ATD转换。置0时,在停止模式下,ATD模块停止当前的转换,退出停止模式后,ATD转换自动重新开始。
ETRIGLE:外部触发电平/边沿控制位。ETRIGP:外部触发极性控制位。这两位一起控制外部触发条件。对应触发条件如下表:
ETRGLE ETRIGP 外部触发条件 0 0 下降沿 0 1 上升沿 1 0 低电平 1 1 高电平 ETRIGE
ASCIE:ATD转换序列结束中断使能位。置1,则使能ATD转换序列结束中断。使能后,当SCF=1时,将引发中断。
ACMPIE:ATD比较中断使能位。
ATDCTL3控制寄存器3
? Bit7 Bit6 Bit5 Bit4 Bit3 Bit2 Bit1 Bit0 读/写 DJM S8C S4C S2C S1C FIFO FRZ1 FRZ0 复位值 0 0 1 0 0 0 0 0 DJM1,则结果寄存器中的数据位右对齐,置0,则结果寄存器中的数据结果为左对齐。由于转换精度有8位,10位,12位,而结果寄存器是16位的,所以就有必要选择对齐方式了。
S8C,S4C,S2C,S1C:A/D转换序列长度定义位,这
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