浅论微粉堆积密度反映碳化硅微粉的.docVIP

谈微粉堆积密度能否反映碳化硅 微粉的粒度和粒型 2011年 9月23日  内容摘要： 本文主要介绍微粉堆积密度是否能反映碳化硅微粉的粒度和粒形，采用数据统计的方法对实验数据进行了分析，确定了碳化硅堆积密度测量的各个过程，碳化硅粒度值和颗粒的粒形总体对比分析。实验结果表明：在碳化硅微粉堆积密度检测能反映单号、CV值较小的碳化硅微粉，对于段粉不能充分的反映和说明碳化硅微粉的粒度和粒形。 关键词： 绿色碳化硅 ；堆积密度；粒形；粒度  概述 微粉堆积密度指的是微粉在散粒形态中自然堆积状态下单位体积的质量比。自然堆积状态的体积含颗粒内部的空隙和颗粒之间的空隙体积。堆积密度是碳化硅微粉的一项重要技术参数，它是指可流动的微粉一摸中特定的方式和途径流入容器，其质量与体积之比，以g/cm3表示。与粗颗粒磨料堆积密度的测量方法相比，微分堆积密度的测量要复杂的多，这因为微粉的颗粒直径比较小，当颗粒之间的吸附力、摩擦力与颗粒自重在一个数量级时，颗粒会彼此吸附在一起，形成团聚现象。颗粒直径越小，团聚现象就会越严重。测量其堆积密度时必须将碳化硅微粉颗粒分散开，就要施加一定的外力，当外力大于微粉颗粒之间的吸附力和摩擦力时，微粉颗粒就会分开，外力的产生可通过多种途径实现，一般采用机械振动的方式。 实验分别是采用雷蒙磨粉机和气流磨粉机制作出来的各型号微粉。型号主要有GC#1000、GC#1200、GC#1500、GC#2000和GC#1200-1500段粉。雷蒙磨粉机和气流磨粉机制作出来的碳化硅微粉最主要的区别就是颗粒的粒型，雷蒙磨粉机制作出来的碳化硅微粉粒型较尖锐，气流磨粉机制作的碳化硅微粉粒型较圆钝。 实验仪器 微粉堆积密度的测量仪器示意图1，型号为DMF-A,郑州磨料磨具磨削研究所。测量装置主要由接料部分、振动送料部分、电器控制部分组成。将待测的微粉装入漏斗,微粉在自身的堆积作用下处于稳定状态。当电磁振荡器启动后,微粉在电磁振动的作用下,沿振动导槽以特定的方式和途径流入测量筒中。影响测量结果的主要几何尺寸规定如下。 ①出料口的内径: 28 mm; ②出料口的高度: 38 mm; ③振动导槽长度: 210 mm ④从漏斗的底边至振动导槽底面的高度: ( 8 ±4mm) ; ⑤测量筒容积: (200 ±0. 5) cm3 ,其容积由64 mm内径与62. 2 mm高度构成; ⑥微粉下落高度: (140 ±1) mm (从振动导槽底部的上边沿至测量筒的底部) 。 1. 溢出盘; 2. 测量筒; 3. 防护屏; 4. 支架; 5. 漏斗; 6. 振动导槽; 7. 电磁振荡器; 8. 橡皮台脚 图1 微粉堆积密度测量仪示意图 电磁振荡器的主要作用是将彼此吸附在一起形成结团、聚集的微粉颗粒分散开,并在分散的同时实现微粉颗粒的连续传送,其性能直接影响到微粉颗 粒的分散效果,对测量结果有很大影响。DMF - A型微粉堆积密度测定仪采用的电 磁振荡器的结构，如图2所示。 图2　电磁振荡器的结构图 在图2中,激励信号为脉动直流电压。当脉动直流电压处于脉冲状态时,弹簧板受磁力作用沿弧线向下运动,当脉动直流电压处于零状态时,弹簧板在形变所产生的弹力作用下,沿弧线向上运动并回复到原始状态,弹簧板的振动随脉动直流电压呈3000次/min的周期性变化。弹簧板通过振动的传播,使振动导槽中的微粉颗粒产生振动。振动导槽中的微粉颗粒受到的振动力可分解为与振动导槽平行的分量和与振动导槽垂直的分量。与振动导槽平行的分量使微粉颗粒沿导槽水平方向移动,与振动导槽垂直的分量使微粉颗粒产生向上的运动,而后又在重力的作用下回到振动导槽上。微粉颗粒的整个运动过程类似于跳跃,这种跳跃给微粉一种摆脱其相互吸附和摩擦的强制作用,从而达到了分散与传送的双重效果电磁振荡器的主要技术参数如下： 动频率: 3000次/min ; 振动幅度: 0-1.5 mm。 碳化硅微粉粒型 2.1 颗粒形状的定义 颗粒形状是指一个颗粒的轮廓边界上各个点所构成的图像。 碳化硅微粉颗粒的形状的碳化硅微粉的一个重要特征，微粉的颗粒形状直接影响的碳化硅的流动性，堆积密度，表面氧化等。观察和研究颗粒的形状和表面结构，可以采用光学显微镜，电子透射显微镜和扫描电镜，对于粗的碳化硅微粉可以用放大镜或肉眼观察。微粉颗粒的典型状态如图。 图2-1 颗粒的典型状态 微粉颗粒并不像上述那样简单，是各种各样的形状，不能笼统的断言那种形状最合适，即使是同一种方法生产的粉末也会有不通的颗粒形状，表1-1中列出了描述颗粒形状的常用术语。 表1-1 颗粒形状的定义 针形 针形体 片状 板状体 多角状 具有清晰边缘或有粗糙的多面