答辩-Pr与Dy共掺杂BiFe0.97Mn0.03O3薄膜的制备及其多铁性能研究.pptVIP

S U S T 湿化学合成研究室 湿化学合成研究室 材料科学与工程学院—— Pr和Dy共掺杂BiFe0.97Mn0.03O3薄膜的制备及其多铁性能研究 4 结论 3 结果分析 2 实验 1 引言 主要内容： * 1 引言 * BaTiO3为钙钛矿结构，具有对称结构，无自发极化。单晶BiFeO3具有菱方钙钛矿结构，属于R3c空间群。室温下单胞菱形钙钛矿结构的BiFeO3是由立方结构沿着[111]方向拉伸而成。Bi3+离子相对Fe-O八面体发生位移，导致结构不均匀而产生极化。 * BiFeO3 晶体的结构 BaTiO3晶胞结构 降低BiFeO3薄膜中的漏电流，增强性能的 方法 ： （1）离子掺杂改性 （2）制备多层复合膜 （3）改进制备工艺 （4）加入缓冲层 * 2 实验 2.1 实验内容 （1） A位Pr掺杂，研究Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜 的铁电性能 （2） A位Pr、Dy共掺杂，研究 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的铁电性能 （3） A位Pr、Sr共掺杂，研究 Bi0.85-xSrxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的铁电性能 * 清洗的基片氮气吹干 实验原料+有机溶剂 搅拌脱水静置陈腐制成溶胶 匀胶（旋涂薄膜） 烤胶10min 退火10min 溅射金 电极 电极退火 薄膜制备流程图 2.2 实验流程 * 重复15次，达到所需厚度 测试性 能 3 结果分析与讨论 3.1 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的结构与性能研究 图3-1 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜XRD图谱 * 3.1.1 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的晶体结构 图3-1 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜XRD图谱 图3-1 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜XRD图谱 图3-1 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜XRD图谱 图3-2 Bi1-xPrxFe-0.97Mn0.03O3薄膜的SEM图 (a) x=0.10；(b) x=0.15；(c) x=0.15 * 3.1.2 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的形貌分析 (a) (b) 图3-2 Bi1-xPrxFe-0.97Mn0.03O3薄膜的SEM图(a) x=0.10；(b) x=0.15；(c) x=0.15 (c) 薄膜580nm SnO2 玻璃基板 图3-3 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的介电频谱(a)和损耗频谱(b) * 3.1.3 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的介电分析 图3-4 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的漏电流图谱 * 3.1.4 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的漏导电流 * 3.1.5 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的电滞回线 图3-5 Bi1-xPrxFe0.97Mn0.03O3薄膜的电滞回线 * 3.2 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的结构和性能研究 3.2.1 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的晶体结构 图3-6 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的XRD衍射图谱 * 3.2.2 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的形貌分析 (c) 薄膜680nm SnO2 玻璃基板 (b) (a) 图3-7 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的SEM图 (a) x=0.05；(b) x=0.06；(c) x=0.06 * 3.2.3 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的介电分析 图3-8 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的介电频谱(a)和损耗频谱(b) * 3.2.4 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的漏导电流 图3-9 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的漏电流图谱 * 3.2.5 Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的电滞回线 图3-10 不同电场下Bi0.85-xDyxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的电滞回线 * 3.3 Bi0.85-xSrxPr0.15Fe0.97Mn0.03O3薄膜的结构和性能研究 3.3.1 Bi0.