电子元器件的老化测试-真空干燥成套设备控制系统.docVIP

电子元器件的老化测试 1、引言 2 2、高温老化的机理 2 3、电子产品的失效曲线分析 2 4、高温老化测试流程 3 5、手动操作设备步骤 4 1、 控制系统初始化 4 2、 预加热过程 6 3、 开启水冷系统 7 4、 附加操作（实际做老化测试时可跳过该执行操作） 8 5、 干燥罐内温度设定 9 6、 结束工作程序 10 7、 装配产品 11 8、 排水处理 11 附录：中华人民共和国国家军用标准---电子及电气元件实验方法（高温寿命实验） 12 1、引言 随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。高温老化的机理电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期电子产品的失效曲线电子产品的失效曲线如所示(亦称为婴儿期)时，由于种种不稳定因素，失效率比较高。产品处于从容易发生失效向不容易发生失效过渡的时期。 当器件处于恒定失效期时，(亦称为生命期) 失效率趋于稳定，是产品的正常使用时期。 当器件处于耗损失效期（亦称为后期失效朔)，由于元器件寿命到了等原因，使产品的失效率大大增加．避免耗损失效的办法是采取预防维修或更换。 由图可见，主要故障都出现在器件寿命周期开始和最后的十分之一阶段。老化就是加快器件在其寿命前10%部份的运行过程，迫使早期故障在更短的时间内出现，通常是几小时而不用几个月或几年。不是所有的半导体生产厂商对所有器件都需要进行老化。普通器件制造由于对生产制程比较了解，因此可以预先掌握藉由统计得出的失效预计值。如果实际故障率高于预期值，就需要再作老化，提高实际可靠性以满足用户的要求。 老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。这种为提高电子产品可靠度和延长产品使用寿命，对稳定性进行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潜在“个体”（元器件），确保整机优秀品质和期望寿命的工艺就是高温老化的原理。高温老化测试流程 从上面的高温老化测试流程中，我们可以看到，在测试过程中，待测元件被放在元件支架上送到老化罐中，当被测元件上电自检通过时，就可以通过P系统设定好高温老化测试的温度老化的温度通常设定在50～60左右，测试时间在～小时不等然后启动加热系统对测试环境加热当整个高温老化测试过程完成后，此控制系统采用PID控制仪进行温度控制，当通过温度传感器采集的被老化的电子产品的温度偏离所希望的给定值时，PID控制仪根据反馈的偏差进行比例（P）、积分（I）、微分（D）运算，输出一个适当的控制信号给执行机构（加热器），促使测量值恢复到给定值，达到自动控制温度的目的。5、手动操作设备步骤 控制系统初始化 接通设备的总开关，检查各配套电器的断路器是否处于接通状态。正常情况下设备的线路已经接好，无需自行跳线。 按下干燥罐罐体下侧的电源开关，拉下开关后工控机上电。 按下控制机柜面板上的【控制电源】按钮，启动控制系统的控制电源，检查仪器仪表工作、显示是否正常。 开启工控机，进入操作系统后双击左面上的【运行系统】图标，进入控制系统。 控制系统如图所示，点击【登陆系统】 选择系统管理员，无需口令，【确定】后登陆进入系统 进入系统后，显示【欢迎进入控制系统】提示 点击【进入监控】，进入总控制菜单画面 点击右下方【工作状态】栏的【手动】按钮，进入手动控制状态，同时开启控制机柜面板上的绿色【水泵】按钮，开启水泵。 水冷系统由水箱、水泵及阀门管道组成，由其对真空泵、冷凝过滤器实行冷却，水箱根据实际使用情况定期更换或补充水。 预加热过程 左键点击控制画面中的【热油泵】，在弹出