SPC計量值管制圖的製作與解析.pptVIP

· 計算錯誤或描點錯誤 · 製程或抽樣方法有分層;即每組數據系統性地包含不同的製程平均,如多線或多機生產各取一個為一組樣本. · 數據曾經修改. $ 少於2/3的點集中在中間的1/3區域中 UCL X LCL ﹞ · 計算錯誤或描點錯誤. · 製程或抽樣方法因連續的組包含不同來源的數據;製程的變異是因製程數據分組造成的. 2.4 發掘及矯正特殊原因 $ 對平均數管制圖上顯示的特殊原因,進行製程的作業作業分析來發掘原因,矯正製程條件並防止再發.管制圖在建議問題在何時開始及持續多久,應該是非常有用的指引. $ 在分析問題中,時間性是很重要的,藉以即早對不良採取對策,同時藉以對診斷的時機有明顯的證據. 2.5 計算管制界線 $ 當進行初期製程解析或重估製程能力時,管制界限應該重新計算,以除去製程在不穩定期間已經發掘及矯正的特殊原因,對管制界線估算的影響.再確認管制圖的點是否在管制狀態下,重複確認,矯正及再計算. 六 製程能力研究 $ 當管制圖顯示製程在管制狀態下,產品或製程品質是否符合客戶的要求,製程能力是一個表示製程品質的重要指標.以製程共同原因的變異與規格比較,來估計製程不良率.而製程能力的改善是需要靠管理當局在系統上著手. $ 有許多估計製程能力方法,但首先要確認製程特性分配是常態,通常以直方圓或常態機率紙分析可以初步鑑定.假如製程特性的分配與常態分配有顯著的差異,則以下的計算及分析與事實會有較大的出入. $ 製程能力的分析方法,無論多精密,也只能提供近似的結果.因為: · 抽樣變異的存在. · 不存在完全在管制狀態下的製程. · 製程特性的分配沒有正好是常態分配. $ 以X-R管制圖分析製程能力的步驟如下: 1. 估計製程平均μ及標準差σ μ= X , σ= R / d2 2. 計算製程能力 · 無規格界線—無法計算 · 單邊上限USL Cp = *** CPU = (USL-X) / 3σ ZUSL = (USL-X) / σ CPL = *** k = Ca = *** CPK = CPU · 單邊下限LSL Cp = *** CPL = (X - LSL) / 3σ ZLSL = (X - LSL) / σ CPU = *** k = Ca = *** CPK = CPL · 雙邊規格 Cp = (USL – LSL ) / 6σ CPU = (USL – X ) / 3σ ZUSL = (USL – X) / σ CPL = (X – LSL) / 3σ ZLSL = (X – LSL) / σ k = C a= CPK = MIN(CPU , CPL) = (1-Ca ) Cp X – ( USL+LSL) / 2 ( USL – LSL) / 2 3 估計製程不良率:製程特性分配為常態時,可用下式估計 雙邊規格 PUSL = P﹝Z ﹥ZUSL﹞ PLS L = P﹝Z ﹥ZLSL﹞ P = PUSL + PLS L 4. 若依客戶要求的品質水準,顯示製程能力不足,則進行改善活動計劃,短期內可用下列方式進行. · 以全檢挑選不良品 · 取得客戶的同意修改規格 七 延長管制界限開始管制 若製程在管制狀態下且製程能力足夠則延長管制界限開始管制.其管制界線以過去解析的數據來估計,估計方法如下: 1. 估計製程平均μ及標準差σ μ= X , σ= R / d2 2. 重新計算管制界限 UCLX =μ+ 3σ/ √n , UCLR= d2σ+3d3σ CLX