LED 寿命试验系统的建立-1.docVIP

LED 寿命试验系统的建立 蔡伟智， 陈晓玲， 梁 奋厦门三安电子有限公司，厦门 361009摘 要： 介绍了 LED寿命试验系统建立过程，提出了寿命试验条件，采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作简便、安全，而且试验容量大。完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。 中图分类号： TN306 文献标识码 ：B 文章编号： 1003-0107（2004）12 一．引言 ????作为电子元器件，发光二极管（ Light Emitting Diode-LED ）已出现 40 多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的 LED 和兰光 LED ，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等［1］ ，提供了作为照明光源的可能性。随着 LED 应用范围的加大，提高 LED 可靠性具有更加重要的意义。 LED 具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要 通过寿命试验对 LED 芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高 LED 芯片的可靠性水平 ［2］ ，以保证 LED 芯片质量，为此我司在实现全色系 LED 产业化的同时，并建立了 LED 芯片寿命试验系统。 二．寿命试验条件的确定 ????电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工