下行短波辐射遥感产品地形校正与验证中的尺度问题分析-analysis of scale problems in terrain correction and verification of downlink shortwave radiation remote sensing products.docx

I 摘要 摘 要 地面站点观测的地表太阳辐射通常被认为是地表所接受的真实辐射，而被频 繁用于监测地面的能量平衡。遥感反演的辐射产品能够大范围对地表能量进行监 测，但却忽视了地形对太阳辐射辐射的再分配作用。一个好的地形校正模型是准 确估算地表太阳辐射真实分布状态的基础，而在对特定尺度的辐射产品进行地形 校正时，可以利用多种分辨率的 DEM 参与校正过程，采用何种分辨率的 DEM 在 能有效刻画空间异质性对辐射的影响的同时，又能最大化的减少地形校正过程中 的数据冗余，是当前研究的难点。另外，在对地形校正结果进行验证时，我们需 要知道直接以地面观测的“点”数据与辐射产品像元的 “面”数据进行直接对比 是否合适？地面观测数据是否能代表其周边较大范围面上的数据？造成验证结果 较差的原因不但有反演及校正模型本身，还有可能是地表站点缺乏空间代表性。 本文的研究工作主要针对上述的三个问题展开。主要研究工作如下： (1)评价当前主流的几种地形校正模型，选取一种较优的地形校正模型。利用 模拟得到的高分辨的水平辐射数据，定量化分析地形对辐射的影响机制，在此基 础上，发展基于 DEM 数据、以及水平地表太阳辐射的山地太阳辐射分布可视化模 拟工具。 (2)探索不同分辨率的 DEM 进行地形校正时所带来的尺度效应，针对特定分辨 率的辐射产品，探索哪种分辨率的 DEM 数据能够达到最佳的地形订正效果，以及 分析 DEM 分辨率在地形订正中的敏感性。 (3)在先前两项工作的基础，本文建立了一种新的评价气象辐射站观测数空间 代表性的方法，并对我国 97 个气象站的空间代表进行模拟，以及评价了影响空间 代表性的因素，包含太阳几何位置、大气状况、数据的时间尺度、传感器的安装 方式和站点所在的坡度坡向等。 关键词：地形校正、空间代表性、地表太阳辐射、尺度效应 II ABSTRACT ABSTRACT Ground measurements of surface solar radiation (SSR) are generally considered to be the true value and are extensively used for the monitor of surface energy balance of the earth. The remote sensed SSR products are capable of monitoring the dynamic variation of energy balance on a large scale of both the land and ocean, but such products lacks profound consideration of the redistribution of solar radiation caused by terrain, i.e., the shadowing effect of adjacent mountains. Thereafter, models or algorithms able to correct topographic effects are urgently to be developed to accurately estimate the real distribution of SSR. In practice, DEM data at various resolutions can be introduced to correct topographic effects for SSR products at certain scales. It is not the application of DEM, but the choice of DEM resolution that really matters because DEM at the chosen resolution should both effectively characterize the spatial heterogeneity of SSR and also minimize the data redundancy, which still remains a current difficulty. The validation reliability is another problem we need to take into consideration when the ―point‖ value of insitu measurements is compared with the ―pixel‖ value of remot