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半成品spc作业规范修改
聯能科技(深圳)有限公司標準書
(標準名稱) 半成品 SPC作業規範 編號:1QQ23-009
頁次: PAGE 6/6
撰寫者: 陳泰宏 第 A 版 日期:2001.08.08
修改者: 賀 鵬 第 J 版 日期:2003.8.25
1GQ53005-002A
1.目的:為確保統計制程管制(SPC)系統能有效實施, 預防重大品質異常之發生.
2.範圍:本規範涵蓋製程自主檢驗, IPQC檢驗, 化驗室等, 如客戶另有要求, 則依客戶要求
執行之.
3.權責:
3.1工程人員訂定規格且製程穩定後由線上人員或IPQC負責相關管制圖資料之填寫及完成.
3.2 廠內化學藥液之管制由化驗室人員擔當
4.參考文件:統計技術管理程序 ( 1QQ02-005 )
5.定義:無
6.作業流程:無
7.作業內容:
7.1管制圖別, 實施站別, 管制項目, 規格值, 參考管制值, 檢驗工具, 取樣方式及擔當:
7.1.1 管制站別:如附件所示。
7.1.2 取樣頻率:符合SPC以連續性取樣為原則(組內變異小,組間變異大)。
7.2 SPC作業管制及規範:
7.2.1 規格及管制上下限:各站規格, 管制上下限如SPC管制圖、推移圖作業注意事項中所示.
7.2.2各站作業規範:作業規範 ( 取樣方式, 數據取得, 製圖方式 )見各站SPC管制圖、推移圖作業注意事項所示.
7.2.3異常處理:異常處理之反應對象, 反應時效及處理方式見各站SPC管制圖、推移圖
作業注意事項所示.
7.2.4每月Cpk檢討重要度:若 A 級在 1.67 以下由製程主導專案改善
若 B 級在1.33以下由製程主導專案改善
7.2.5凡客戶有特殊要求時,按客戶要求執行。
7.2.6 管制圖之修正以每半年一次針對所有A級Cpk1.67B級 Cpk1.33之製程作修正.
7.3月報整理:各站于每月1號前將 X - R CHART、推移圖送回品保, 以利Cpk計算及月報整
理; Cpk計算公式如下:
A. Ca製程準確度: 用以衡量製程之實際平均值與規格中心值之一致性
實際中心值-規格中心值
a. Ca之計算公式=
規格公差/2
規格公差=T= 規格上限-規格下限=USL-LSL
規格中心值=(規格上限+規格下限)/2
注意:單邊規格因沒有規格中心值故不能算Ca
b.等級判定: Ca值愈小,表示品質愈佳
等級
Ca值
A
│ Ca│≦12.5%
B
12.5%│ Ca│≦ 25 %
C
25%│ Ca│≦50%
D
50%│ Ca│
( 若另k=1-│ Ca│ 則k值越大越佳)
Cp製程精密度: 用以衡量製程之變異寬度與上下限範圍差異情形
Cp 之計算公式
規格公差 T
雙邊規格= =
6個製程標準差 6δ
規格上限-實際中心值 USL - μ
上單邊規格= =
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