spc统计制程管制124736.pptVIP

本课程的目的 使学员: 常态分布的曲线成“钟型曲线”, 且具备下列特性: 68.3% 的数据在 μ± σ 范围内 (μ: 平均值,σ: 标准差) 95.5% 的数据在 μ±2σ 范围内 99.73% 的数据在 μ±3σ 范围内 第一单元 练习 第一单元 练习 第二单元 总结 第二单元 练习 ▼基本原则 正常管制图上的点，必须符合: (1)随机分散 与 (2)常态分布 的原则，所以至少要满足下面几点要求： ▼ 区间测试(Zone Test)法则 区间法则可适用于管制图中心线之两侧。首先，将管制图之两侧各分为三个区间，每个区间的宽度为一个标准差，如图三所示： 区间测试法则 练习题 一个管制图如下所示。请对此管制图进行判读，也就是说，判断出这个管制图是否有出现制程失控？ 第三单元 总结 第三单元 总结 第三单元 练习 第三单元 练习 第四单元：常用管制图之绘制 一、平均值-全距管制图( 管制图) 2.点绘管制图 第四单元 总结 第四单元 练习 第四单元 练习 QA ● 适用情况 适用于小样本大小，即样本大小小于或等于10 (注：样本大小大于 10时，则必须使用 X -S 管制图)。 ● 建立 -R 管制图之步骤 先建立解析用管制图，待确定管制界限后，再建立管制用管制图， 其步骤如下： A. 选定管制项目 在制程中选择对产品品质特性有重要影响之要因或重要品质特性作为管制项目。 B. 搜集数据 搜集最近之数据100个以上，对这些数据之来源应充分了解，并希望以后之制造工程，其情况需与搜集数据时相同。 C. 按产品生产之顺序或测定之顺序，排列数据。 D. 数据之分组 每组所含之数据个数称为样本大小(sample size)，以n表示。 样本之组数称为样本数,以k表示。分组法与层别有关，普通按时间顺序或测定顺序分组，使组内不含不同性质数据，并使n=2~5之间，k=15~20 之间最为适当。 E. 数据之记录:将分组之数据记入数据记录表。 G. 计算各组数据之全距:Ｒ。 F. 计算各组数据之平均值:Ｘ。 H. 计算总平均值:Ｘ。 K. 计算管制界限: I. 计算全距之平均值:Ｒ。 J. 查係數表。 L. 绘制管制界限 管制图在上，R 管制图在下，按习惯一般 图之宽度较R 图为大。将前面计算所得之管制界限数据绘入图纸上。 M. 点图 将F及G两节中所计算得之X及R 数据，点绘在适当位置，并在相邻两点间以直线连接之。 N. 安定状态之判定 点入图内之点子，如在管制界限内，或无特殊图案出现时，则判定制程安定，可继续生产下去。如有点超出管制界限时，则判定制程有不正常原因侵入。 O. 采取措施 a.制程有不正常原因存在时，应即调查原因，加以处置。 c.R管制图上有点超出管制界限时，则表示制程变异增大。 d.采取措施(对策)时，不但要消除当时之不正常现象，还要预 防再度发生，以符合品质之原则。 b.X管制图上有点超出管制界限时，则表示制程平均发生变化或 变异增大。 ▼实例说明 例一、内层制程工程师希望建构一个内层线宽量测的管制程序，以便当 内层线宽量测值发生异常时可以迅速的侦测出来。他从生产线上收集到 15组(每组样本数目大小为3,即n=3),线宽量测数据如下，请利用此笔量 测数据绘制解析用之平均值与全距管制图并判读制程是否失控。 [解]： 1.计算管制中心线与管制上下限 X管制图管制上限：X+A2R=3.05+1.023×0.093=3.15 管制下限：X-A2R=3.05-1.023×0.093=2.95 R管制图管制上限：D4R=2.575×0.093=0.24 管制下限：D3R=0×0.093=0 管制上下限 系数表 ▼实例说明 例一、内层制程工程师希望建构一个内层线宽量测的管制程序，以便当 内层线宽量测值发生异常时可以迅速的侦测出来。他从生产线上收集到 15组(每组样本数目大小为3,即n=3),线宽量测数据如下，请利用此笔量 测数据绘制解析用之平均值与全距管制图并判读制程是否失控。 R 管制图 __ X 管制图 3.判读管制图 在管制图上第十四点超出下管制界线，故判定制程失控 (out of control)。 失控 A2: P27~31. A1: (1)X-R: 适用于小样本大小, 即1n=10. _ 2.建立解析用管制图的步骤为何? _ 1. X-R Chart使用时机是什么? 一、判断题： 1.X-R 管制图使用时机其样本数为n10 2.常用计量型管制图可以分为X-R管制图与X-Rm管制图两种 3.计量型管制图上有两个图，而计数型管制图中只有一个图 4.平均值-全距管制图须按产品生产之顺序或测定之顺序， 排列数据 5