仅需短短013秒即可高精度测量8万个点的高度.PDF

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仅需短短013秒即可高精度测量8万个点的高度

全新 干涉式同轴 位移测量仪 3D WI-5000 系列 仅需短短 0.13 秒即可高精度 测量 8 万个点的高度 - 系列 WI 5000 以面瞬间捕捉,极具高精度的 高度测量仪 以面捕捉 补正位置/ 倾斜 各种尺寸检测 仅需短短 0.13 秒 2 正确捕捉高度的测量能力 10 × 10 mm 8 在线高速全数检测 8 0.13 削减离线检测工时 干涉式同轴3D 位移测量仪 WI-5000 系列 3 正确捕捉高度的测量能力 通过白光干涉原理实现高精度测量 SLD

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