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实实现现微微流流控控粒粒子子分分选选芯芯片片几几何何参参数数预预估估与与高高效效设设计计的的传传递递函函数数
拟拟合合法法
张岩1
1 华大学精密仪器系
Abstract
引言 :
对于微流控分选芯片而言 ,分支出口的位置、宽度等几何参数会直接影响到粒子分选精度与回收
效率。但是 ,遗憾的是 ,对于流道各分支出口位置的高效设计方法却鲜有报道。当前的设计方法
主要是对对每一种 目标粒子直接进行轨迹仿真[1~7]。但这种方法的运算成本巨大 ,如果粒子分散
体系涉及到的粒径种类繁多且流道结构复杂 ,那么对每种粒径都进行仿真分析将会使得计算量与
计算精度之间的矛盾愈加尖锐 ;而且 ,每引入一种没有被仿真研究过的粒径 ,都要对其重新进行
仿真运算 ,运算成本巨大[8~10]。
据此 ,本文提出了一种结合有限元分析仿真与系统辨识方法的粒子出射位置预测方法 :利用少量
的几组仿真实验结果即可以对多分散粒子体系进行出射位置的定量预测 ,大大减小运算量 ,提高
芯片几何设计的效率。具体方案如下 :
COMSOL MULT IPHYSICS® 软件的使用 :
首先 ,进行仿真实验 ,获得原始拟合数据。仿真分为两部分 :流场仿真与粒子运动轨迹仿真。分
别采用Laminar Flow与Part icl T racing for Fluid Flow模块执行 ,为了保留粒子的出射位置坐标
信息 ,Part icl T racing for Fluid Flow模块的输出端边界条件设置为fr z 。首先利用静态求解器
求解流场速度分布 ,对粒子直径执行参数扫描 ,在0.1um与80um之间均匀取样20个直径值 ,再利
用时域求解器配合参数扫描 ,求解不同尺寸粒子在流场中的运动轨迹。得到的粒子运动轨迹仿真
结果示意图 (图1)。然后 ,从得到的粒子数据集 (Part icl data s t )中导出输出端面的粒子的
出射位置坐标 ,导入MAT LA B中进行数据拟合 (图2 ) ,选取逼近度最高的LLS得到粒子出射位置
传递函数 ,用以预测粒子出射位置。
结果 :
为了验证传递函数的准确性 ,对仿真模型进行实验验证 ,得到微流控芯片关键位置处的荧光粒子
轨迹图 (图3 )。对荧光图像进行后处理 ,再在荧光强度分布图上测量粒子出射轨迹的位置坐标 ,
为了减小测量误差 ,选取流道下游的三个位置来测量 (图4 )。
结论 :
该方法结合仿真与传递函数拟合 ,大大减少仿真运算量 ,同时实验结果与传递函数预测值之间的
误差比重保持在3%以内。该方法运算量小 ,可以方便灵活地在较大粒径范围内预估粒子出射位
置 ,并可利用传递函数对分选芯片的性能进行预估 ,从而可以快捷高效地为芯片出口分支位置的
设计提供依据。
Reference
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