光学薄膜地特性检测.pptVIP

;光度法测量薄膜的光学常数;利用反射率求折射率;于是测量折射率就成了简单的事情，只需要读取极值反射率，然后从上式求解n;上面没有消除基片背面反射的影响。;利用透射率求折射率;光经过镀膜基片的透射率为 ;所以;上式求出Tm，而后带入上面式子便得到n 这种方法不仅校正了基片背面的吸收的影响，而且由于采用比较法测量，减小了光度计的测量误差。 前面我们假定膜层没有吸收，实际透明膜或多或少会有一些吸收 。可采用多次反射，通过延长光学路径的办法，便能测量若吸收的吸收系数 ;吸收系数的测量;在膜层中的传播路径为 ;于是经过2N次反射后从平板射出的光强变为; ;i;i;当入射介质薄膜光线的入射角为b时，应用入射角和折射角互余和折射定律有;准波导法是利用棱镜耦合来测量沉积在低折射率衬底上或者高折射率棱镜底面上的聚合物薄膜的折射率和厚度的一种方法。其实验装置图如下图所示;光波从棱镜射到薄膜中去，形成共振导膜，导膜又经棱镜耦合射出，透射到观察屏上在观察屏上出现数条明亮的线，如图2.;现在用折射率为np的等腰直角棱镜做为耦合棱镜，使底部与被测薄膜紧密接触。设聚合物薄膜的折射率为n，衬底的折射率为ng，当npnng时，棱镜薄膜衬底就组成一个准波导 设棱镜中光波入射角为θ2，由于导膜的传播并不连续，因而θ2也不连续，只有在一定角度下才能激发出导膜，棱镜中的入射角一半较难测量，但是入射到棱镜上的θm是可以精确测量的。设棱镜底角为ε，则准导膜的有效折射率的实验值可以通过下列式子计算得到; ; ; ;;椭偏法测量的基本思路是，起偏器产生的线偏振光经取向一定的1／4 波片后成为特殊的椭圆偏振光，把它投射到待测样品表面时，只要起偏器取适当的透光方向，被待测样品表面反射出来的将是线偏振光。根据偏振光在反射前后的偏振状态变化（包括振幅和相位的变化），便可以确定样品表面的许多光学特性。;;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;薄膜光学常数的椭圆偏振量;光学薄膜系统透射比、反射比和弱吸收的测量; 光学薄膜系统参数测量包括介质膜折射率测量、光学薄膜厚度测量、光学薄膜透射比测量、光学薄膜反射比测量、光学薄膜吸收比测量、光学薄膜散射比测量、薄膜机械强度和应力测量等。 我们介绍光学薄膜透射比，反射比和弱吸收测量。;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统透射比的测量;薄膜系统反射比的测量;薄膜系统反射比的测量; 高能激光的发展要求有质量非常高的光学薄膜．光学薄膜吸收的存在，是限制高能激光发展的主要因素之一． 为了改善光学薄膜质量，提高其损伤阈值，需要精确测量光学薄膜的微弱吸收。;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜系统弱吸收的测量;薄膜厚度和折射率的测量;薄膜的厚度和折射率的测量方法;薄膜透射率和反射率的测量;薄膜透射率和反射率的测量;薄膜透射率和反射率的测量;反射率测量;2.绝对反射 率测量 V-W型;V-N型 ;根据V-W和V-N测量原理设计自己的测量附件