ICP光谱法测定稀土金属丝中硅磷和铁含量.DOC

ICP光谱法测定稀土金属丝中硅、磷和铁含量 陈海岚 (宝铜工业检测公司检化验中心 上海200941) 摘　要：阐述了ICP光谱法的标准加入法测定稀土金属丝中硅、磷和铁等微量元素。讨论对测定的影响关键技术，及解决方法，并对方法准确度和精密度进行了验证。试验证明本方法快速有效，是解决基体匹配困难及无合适标准样品的良好手段。同时阐明了运用标准加入法的注意点。 关　键　词：ICP；标准加入法，稀土金属 0　前言 稀土金属丝作为炼钢的添加剂，除稀土总量外，铁、硅、磷元素的成分含量也作为稀土金属丝的采购验收要求。包头稀土研究院采用分光光度法分别测试铁、硅、磷三种元素，效率比较低。利用等离子发射光谱仪多元素同时分析的优势，建立电感耦合等离子体原子发射光谱分析方法，本文涉及的稀土金属丝以镧、铈为主，稀土总量大于98％，还伴有其他镧系元素，组分含量不明，铁、硅、磷元素含量比较低，常规测试方式中，基体完全匹配比较困难，此外没有合适的标准物质控制，采用标准曲线法测定不能得到可靠的结果，因此认为可使用标准加入法来回避上述难点。 1 试验部分 1．1试验装置和试剂 1．1．1 VISTA RL电感耦合等离子发射光谱仪美国Varian公司 1．1．2硝酸(1+1) 1．1．3硅标准储备液(1mg／mL)，用时稀释至所需浓度。 1．1．4磷标准储备液(1mg／mL)，用时稀释至所需浓度。 1．1．5铁标准储备液(1mg／mL)，用时稀释至所需浓度。 1．2试样分解 准确称取稀土金属丝试样0．500 0g，置于150mL烧杯中，加硝酸(1+1)10mL，低温加热溶解，直至试样完全溶解。取下，冷却至室温，转移至100mL容量瓶中，用水稀释到刻度，摇匀。随同试样做空白试验。 1．3工作曲线的绘制 取5个烧杯，分别准确称取稀土金属丝试样0．5000g，除第1个烧杯外，其余4个烧杯内分别加入一定量的硅、磷、铁标准溶液，使之呈一定梯度线性。然后加硝酸(1+1)10mL，低温加热溶解，直至试样完全溶解。取下，冷却至室温，转移至100mL容量瓶中，用水稀释到刻度，摇匀。 1．4测定 在ICP仪器上设定标准加入法方法，在合适的波长处，依次测定空白溶液、加标的工作曲线溶液、不加标的试样溶液的强度，计算出试样中待测元素的含量。 1．5仪器最佳测定条件 等离子体功率1．20kW；载气流量0．80 L／min；积分时间8s；观测高度8mm。 1．6元素测定谱线 排除基体元素干扰情况，选择灵敏度较高且稳定的谱线作为分析线。分析线选择如下： Fe 234．35nm或238．204nm； Si 212．412nm或251．611nm； P 177．434nm。 2　结果与讨论 2．1加标量对测定的影响 以一已知量的稀土金属丝试样290为试验对象，第一点的加标量分别是试样实际含量的0．25倍、0．5倍、0．75倍、1．0倍、1．5倍、2．0倍，其余各点等份递增，共4点。测定结果见表1。 表1可见：第一点加标量是实际值的0．25倍时，除铁元素外，硅和磷元素测定的准确度和精密度都比较差。当第一点加标量是实际值的0．5～1．5倍时，对测定的影响较小，能获得比较理想的准确度和精密度。但第一点加标量不能太大，否则会使曲线的截距过小，斜率变大，外推至横轴的负轴上绝对值的误差也大，这样也很难获得较高的准确度。 2．2基体的背景对测定的影响 在进行试验时发现一个情况，硅212．4nm和251．611nm波长处测定值差相同，而在288．158nm波长处的测定值要高出近一倍。为此配制了Ce和La标准溶液，在硅、磷、铁各元素的待测波长处进行谱线扫描，结果发现，Ce元素对这些待测元素无干扰，而La元素对硅288．158nm谱线有强烈的光谱干扰。由图1可见，镧元素在288．150nm波长与硅谱线大部分重叠，形成一很强的背景，从而使检测结果偏高，所以认为硅288．158nm谱线不适合用做标准加入法。 2．3空白试液对测定的影响 标准加入法中空白试液是否应用对测定有很大的影响，它直接关系到工作曲线的斜率，通过工作曲线扣除空白和不扣除空白一组试验结果比较(见表2)可知。 对于硅、磷这些低含量元素，工作曲线扣除空白和不扣除空白所得测定值相差比较明显，对于含量比较高的铁元素，相差不大，这是因为含量越低，空白对曲线斜率的影响越大，所以采用标准加入法需要测空白试液，采取扣除空白方式。 2．4准确度试验 采用资质度较高的包头稀土研究院分光光度法的测定结果与本方法检验数据对照，考证本方法的准确度，结果见表3。 由表3结果比对情况可见：本方法与包头稀土研究院分析数据偏差小于一般光度法分析误差要求。 2．5精密度试验 对编号290和285试样进行了精密度试验，结果见表4。 由此可见：本方法中常