闪烁晶体衰减时间测试系统NP-Tau65用户手册.PDF

闪烁晶体衰减时间测试系统（NP-Tau65 ） 用户手册 公司：成都诺为光科科技有限公司 地址：四川省成都市武侯区领事馆7 号保利中心南塔603 室 电话：028 传真：028 邮箱：novaphoton@163.com 邮编：610041 网址： 闪烁晶体衰减时间测试系统（NP-Tau65 ） 用户手册 1、简介 本系统是诺为光科根据客户需求研制的一套用于闪烁晶体瞬态发光特性测试的 实验装置。该系统采的Na22 放射源作为激发源，使用样品室、电子学系统和测 量控制软件等部件，实现晶体衰减时间测试功能。采用延迟符合法精确测量闪烁 体的时间相应特性、表征晶体的衰减时间，同时还可以实现样品符合分辨时间 （CRT ： Coincidence Resolving Time）测量。 成都诺为光科科技有限公司 闪烁晶体衰减时间测试系统（NP-Tau65 ） 用户手册 ***安全警告*** Caution 使用时请严格遵守安全操作规定，确保人身安全和设备安全。 Electric Injurey 内有高压。请注意用电安全，当心触电危险。 成都诺为光科科技有限公司 闪烁晶体衰减时间测试系统（NP-Tau65 ） 用户手册 2、系统原理图 上位机测控软件 HV 1 Preamp 1 Delay 1 CFD 1 PMT 1 Start PMT 1 衰减片 待测样品 BaF2 For CRT testing Na22 Coincidence Trigger TAC MCA