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设备能力研究- Cmk计算与分析 Lionel 关键术语 Cmk :设备能力指数 “设备能力“由公差与生产设备的加工离散之比得出。通常采用数理统计的方法进行测算和证明，此时只考虑短期的离散，尽右能地排除对过程有影响而非机器的因素。（参照VDA第4卷的第1部分） Overview 认识设备变差 设备变差研究 计算CMK流程 学以致用 课程小结 1-认识设备变差 什么是变差 变差与正态分布 变差的普通原因与特殊原因 什么是变差 变差（波动）是质量的敌人； 品质改善就是要持续减少设计、制造和服务过程的波动 变差与正态分布 正态分布曲线 正态分布之特点 过程变差的75%来自设备变差 变差产生的原因 普通原因 Common Cause 指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的 且可重复的变差的原因分布在整个过程。 “普通原因”表现为一个稳系统的自然原因。 只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程 的输出才可以预测。 “普通原因”始终存在于稳定的过程中！ 普通原因 Common Cause 已经上线很久的机种，原材料的供应商稳定，制造流程没有改变，作业员很熟练，工程也没有变更，但是每批总是有一定的不良率。由于管理阶层不对系统进行改善，因而控制系统的不良率不会明显降低。 特殊原因 Special Caus