大于平均故障间隔时间MTTF-云林科技大学工业工程与管理系.PPT

20070802 國立雲林科技大學 工業工程與管理所Optimal burn-in decision for products with an unimodal failurerate function 指導教授： 童超塵 作者：張東生教授 主講人：廖翊亨摘要 臨界時間點將產品壽命時間分為遞增故障率及遞減故障率階段。 以浴缸曲線模式為考慮的平均剩餘壽命時間(Mean Residual Life)無法達成最大化的目標 本文將建立一個成本最小化的模式。 本文將以對數常態分配為例，討論出一個有效的硬體燒機測試。1.介紹 對公司來說，決定最佳測試時間相當重要。 Gupta與Akman已經發表平均殘餘壽命(Mean Residual Life)是顛倒的單峰圖形。 1983 Govil及Aggarwal給定對數常態分配的平均殘餘壽命函數有一個顛倒的單峰圖形。 左圖顯示在最佳測試決策中的同一時間，可能可以達到減少損壞率和增加平均殘餘壽命。 (a)故障率函數(b)平均殘餘壽命函數於本文中，我們利用Nguyen和Murthy的成本模式去探究最佳測試時間的決策，並假設產品壽命分配為單峰故障率函數。 下列為本文中使用到的符號： 20070802 2.硬體燒機測試模式圖三為對數常態分配μ=1的單峰故障率的圖形透過執行燒機測試超過臨界時間可以達到產品可靠度的改善，假如臨界時間大於平均故障間隔時間(MTTF)，則測試為不必要的，所以設定一個範圍給測試時間(burn-in time)。因為平均殘餘壽命(MRL)為顛倒的單峰圖形，所以可能小於平均故障間隔時間(MTTF)，故考慮平均殘餘壽命(MRL)在測試後大於平均故障間隔時間(MTTF)。 於Nguyen與Murthy(1982)、Chou與Tang(1992)所考慮相關於成本配置的相同假設，則總成本如下：經兩次微分，得到值為大於零，則可知具極小值。 因為是顛倒的單峰函數，所以可求得總成本最小時的最佳測試時間 。一個方法被提供，並依據它們個別參數的範圍來描繪解答空間，即為： 用reparametrization法來研究在臨界時間和 參數的個別影響。 畫出 參數θ為各種值的線。 個別比較 ， 若 則測試為不必要。 對於實施有效的測試，研究參數的可行範圍為： 假如給予可行範圍內的參數，則利用提議的成本模式找尋最佳測試時間。 3.以對數常態分配為例子 為了簡化分析，將故障時間和故障率函數標準化：標準化MRL(t)： 為了研究實施有效的測試，檢驗在各種σ值下臨界時間、MTTF及 之間的關係。 左圖顯示隨著變異數改變，Xμ、臨界時間都呈現遞減，而平均故障間隔時間(MTTF)為遞增。 臨界時間當σ≦A ，因為臨界時間或Xμ大於MTTF，則測試是無效的。 當B＜ σ ≦C，最佳測試時間可能因為 限制式 的p被限制。 所以當σ＞C，可經濟地決定最佳測試時間。 最佳測試點不只在初期減少了高故障率，同時使得平均殘餘壽命(MRL)大於平均故障間隔時間(MTTF)。 在各種不同變異數值下，透過MATLAB求得最佳測試點、總成本、在故障率和平均殘餘壽命(MRL)的測試影響，皆已總結於表一。 4.結論 對於改良可靠度，最佳測試決策必須考慮臨界時間和平均殘餘壽命兩者。 透過研究指出了臨界時間、Xu和MTTF之間的關係，提出其各個參數的可行範圍，以實施一個有效測試。 具有單峰故障率函數的產品，燒機測試並非時常必須且經濟的。謝謝大家！*國立雲林科技大學 工業工程與管理所*