X射线荧光光谱分析仪教学讲义.pptVIP

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  • 2018-10-15 发布于天津
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X射线荧光光谱分析仪教学讲义.ppt

X-射线荧光光谱仪基本原理及应用;定律1 莫塞莱定律; 布拉格定律(Braggs law)是反映晶体衍射基本关系的理论推导定律。1912年英国物理学家布拉格父子(W.H. Bragg和W.L. Bragg)推导出了形式简单,能够说明晶体衍射基本关系的布拉格定律。此定律是波长色散型X荧光仪的分光原理,使不同元素不同波长的特征X荧光完全分开,使谱线处理工作变得非常简单,降低了仪器检出限。; 比尔-朗伯定律(Berr-Lamberts law)是反应样品吸收状况的定律,涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。 当X射线穿过物质时,由于物质产生光电效应、康普顿效应及热效应等,X射线强度会衰减,表现为改变能量或者改变运动方向,从而使向入射X射线方向运动的相同能量X射线光子数目减少,这个过程称作吸收。 对于任意一种元素,其质量吸收系数随着波长的变化有着一定数量的突变,当波长(或者说??量)变化到一定值时,吸收的性质发生了明显变化,即发生突变,发生突变的波长称为吸收限(或称吸收边),在各个吸收限之间,质量吸收系数随波长的增大而增大。对于X射线荧光分析技术来说,原级射线传入样品的过程中要发生衰减,样品被激发后产生的荧光X射线在传出样品的过程中也要发生衰减,由于质量吸收系数的不同,使得元素强度并不是严格的与元素浓度成正比关系,而是存在一定程

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