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ch02半导体物理和半导体器件物理基础futxcp9j
SiO2 结构示意图 N沟道增强型绝缘栅场效应管 P型硅衬底 源极S 栅极G 漏极D 衬底引线B N+ N+ D B S G 符号 1. 结构和符号 SiO2 结构示意图 P型硅衬底 耗尽层 衬底引线B N+ N+ S G D UDS ID = 0 D与S之间是两个 PN结反向串联, 无论D与S之间加 什么极性的电压, 漏极电流均接近 于零。 工作原理 (1) UGS =0 P型硅衬底 N + + B S G D 。 耗尽层 ID = 0 (2) 0 UGS UGS(th) 由柵极指向衬底方 向的电场使空穴向 下移动,电子向上移 动,在P 型硅衬底的 上表面形成耗尽层。 仍然没有漏极电流。 UGS N+ N+ UDS P型硅衬底 N + + B S G D 。 UDS 耗尽层 ID 栅极下P型半导 体表面形成N型导电 沟道,当D、S加上 正向电压后可产生 漏极电流ID 。 (3) UGS UGS(th) N型导电沟道 N+ N+ UGS 4 3 2 1 0 5 10 15 UGS =5V 6V 4V 3V 2V ID /mA UDS =10V 增强型 NMOS 管的特性曲线 0 1 2 3 饱和区 击穿区 可变电阻区 2 4 6 UGS / V UGs(th) 输出特性 转移特性 UDS / V ID /mA 可变电阻区:UGS不变,ID与UDS成正比,漏源之间相当于一个可变电阻。 4 3 2 1 0 5 10 15 UGS =5V 6V 4V 3V 2V ID /mA UDS =10V 增强型 NMOS 管的特性曲线 0 1 2 3 饱和区 击穿区 可变电阻区 2 4 6 UGS / V UGs(th) 输出特性 转移特性 UDS / V ID /mA 饱和区:UDS大于一定值,在 UGS 一定,ID几乎不变, ID 受UGS的控制。 4 3 2 1 0 5 10 15 UGS =5V 6V 4V 3V 2V ID /mA UDS =10V 增强型 NMOS 管的特性曲线 0 1 2 3 饱和区 击穿区 可变电阻区 2 4 6 UGS / V UGs(th) 输出特性 转移特性 UDS / V ID /mA 截止区:UDS过大,ID急剧增加。 4 3 2 1 0 5 10 15 UGS =5V 6V 4V 3V 2V ID /mA UDS =10V 增强型 NMOS 管的特性曲线 0 1 2 3 饱和区 击穿区 可变电阻区 2 4 6 UGS / V UGs(th) 输出特性 转移特性 UDS / V ID /mA 转移特性: ID=f( UGS )| UDS=常数 结构示意图 N沟道耗尽型绝缘栅场效应管 P型硅衬底 源极S 漏极D 栅极G 衬底引线B 耗尽层 1. 结构特点和工作原理 N+ N+ 正离子 N型沟道 SiO2 D B S G 符号 制造时,在二氧化硅绝缘层中掺入大量的正离子。 4 3 2 1 0 4 8 12 UGS =1V –2V –3V 输出特性 转移特性 耗尽型NMOS管的特性曲线 1 2 3 0V –1 0 1 2 –1 –2 –3 UGS / V 特性曲线 ?ID ?UGS UGs(off) UDS / V UDS =10V ID /mA ID /mA N型硅衬底 N + + B S G D 。 耗尽层 PMOS管结构示意图 P沟道 P沟道绝缘栅场效应管(PMOS) PMOS管与NMOS管 互为对偶关系,使用 时UGS 、UDS的极性 也与NMOS管相反。 P+ P+ UGS UDS ID P沟道增强型绝缘栅场效应管 开启电压UGS(th)为 负值,UGS UGS(th) 时导通。 S G D B 符号 ID /mA UGS / V 0 UGS(th) 转移特性 P沟道耗尽型绝缘栅场效应管 D B S G 符号 ID /mA UGS /V 0 UGS(off) 转移特性 夹断电压UGS(off)为 正值, UGS UGS(off) 时导通。 在UDS =0时,栅源电压与栅极电流的比值,其值很高。 场效应管的主要参数 1. 开启电压UGS(th) 指在一定的UDS下,开始出现漏极电流所需的栅源电 压。它是增强型MOS管的参数,NMOS为正,PMOS为负。 2. 夹断电压 UGS(off) 指在一定的UDS下,使漏极电流近似等于零时所需的 栅源电压。是耗尽型MOS管的参数,NMOS管是负值, PMOS管
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