x-ray内应力分析.pptVIP

残余应力 当产生应力的各种因素不存在时,(如外力去除、温度已均匀、相变结束等)，由于不均匀的塑性变形（包括由温度及相变等引起的不均匀体积变化）致使材料内部依然存在并且自身保持平衡的弹性应力，又称内应力。 残余应力的影响： 残余应力的存在会对材料的疲劳强度、尺寸稳定性造成不利影响； 在某些情况下，材料表面的压应力会提高表面的疲劳强度。 第I类内应力：属于宏观应力，在X射线辐照区域内，各小晶粒所承受的内应力差别不大，但不同取向晶粒中同族晶面间距存在一定差异。 材料中宏观应力越大，不同方位同族晶面间距或衍射角差异越明显，此为测量宏观应力的理论基础。 第Ⅱ类内应力： 是一种微观应力，其作用与平衡范围为晶粒尺寸数量级。在X射线的辐照区域内，有的晶粒受拉应力，有的受压应力。各晶粒的同族晶面具有一系列不同的晶面间距。即使取向完全相同的晶粒，其同族晶面的间距也不同。 第Ⅲ类内应力: 也是一种微观应力,其作用与平衡范围为晶胞尺寸数量级,是原子之间的相互作用力,如晶体缺陷周围的应力场. 在第Ⅲ类内应力的作用下,由于部分原子偏离其初始平衡位置,破坏了晶体中原子的周期性排列,使X射线衍射强度降低。 应力的表示方法 实例 某铁素体钢材试样的应力测量，采用Cr-K?特征辐射，选(211)Fe衍射面： * K= -318 MPa/o ?x= -591 MPa ?y = -351 MPa ?xy= -45 MPa ? 0 1.860 45 1.623 90 1.104 测量方法 同倾法 侧倾法 * 同倾法 侧倾法 同倾法 固定?0法 固定?法 * 固定?0法 * 固定?法 * 侧倾法 ψ角设置不受任何限制 扫描平面与ψ角转动平面垂直，在各个ψ角衍射线经过的试样路程近乎相等，因此不必考虑吸收因子的影响 * 影响精度的因素 试样 组织结构 表面处理 衍射晶面的选取 定峰 半高宽法、顶部抛物线法、衍射峰重心法etc 应力常数K： * 试样要求 A、材料组织结构 常规的X射线应力测量，只是对无粗晶和无织构的材料才有效，否则会给测量工作带来一定难度。 B、表面处理 要求试样表面必须光滑，没有污垢、油膜及厚氧化层等。 由于机加工而在材料表面产生的附加应力层最大可达100μm，因此需要对试样表面进行预处理。 预处理的方法，是利用电化学或化学腐蚀等手段，去除表面存在附加应力层的材料。 如果实验目的就是为了测量机加工、喷丸、表面处理等工艺之后的表面应力，则不需要上述预处理过程，必须小心保护待测试样的原始表面，不能进行任何磕碰、加工、电化学或化学腐蚀等影响表面应力的操作。 为测定应力沿层深的分布，可用电解腐蚀的方法进行逐层剥离，然后进行应力测量。 或者先用机械法快速剥层至一定深度，再用电解腐蚀法去除机械附加应力层。 辐射波长与衍射晶面 为减小测量误差，在应力测试过程中尽可能选择高角衍射，而实现高角衍射的途径则是选择合适辐射波长及衍射晶面。 由于X射线应力常数K与cotθ0值成正比，而待测应力又与应力常数成正比，因此布拉格角θ0越大则K越小，应力的测量误差就越小。 此外，选则高角衍射还可以有效减小仪器的机械调整误差等。 定峰方法 应力测量，实质是测定同族晶面不同方位的衍射峰位角，其中定峰方法十分关键。定峰方法有多种，如半高宽中点法、抛物线法、重心法、高斯曲线法及交相关函数法。 在实际工作中，主要根据衍射谱线具体情况，来选择合适的定峰方法。 半高宽中点定峰方法 顶部抛物线定峰方法 衍射峰重心定峰方法 应力常数 应力常数与弹性模量、泊松比及所选衍射晶面有关.晶体中普遍存在各向异性，不同晶向具有不同弹性模量，如果利用平均弹性模量来求解X射线应力常数，势必会产生一定误差。 对已知材料进行应力测定时，可通过查表获取待测晶面的应力常数。 对于未知材料，只能通过实验方法测量其应力常数。 非线性2?-sin2?关系 * a)存在应力梯度；b)存在三维应力；c)存在织构 七、X射线应力分析 应力-应变的基本特征 宏观应力 微观应变/应力 * 微观应变/应力 宏观应力-衍射峰位移 微观应变/应力-衍射峰宽化 * 导致宽化的因素 仪器 晶粒尺寸 0.5~10 micron 微观应变 * 如何区分和解析导致宽化的因素？ 定义 b = 峰宽 bobserved = binstrumental + bstrain and particle size bo = bi + br br = bo - bi (Lorentzian) br2 = bo2 - bi2 (Gaussian) * 晶粒尺寸导致的宽化 晶粒尺寸：2~300nm Scherrer公式：