利用MSP430FRMCU片上VREF和ADC实现低功-TexasInstruments.PDF

Application Notes ZHCA767 - April 2018 利用 MSP430FR MCU 片上VREF 和ADC 实现低功耗电池电压测量 Gary Gao MSP430 AE Louis Lu East CHINA FAE 概述 MSP430 系列 MCU 具有低功耗特性 ，使其在电池供电类产品得到广泛应用。针对这类电池供 电的产品 ，为了保证系统电源的稳定，常对供电电压进行检测，并在电压低于设定安全供电阈 值时进行必要的系统保护及低电压报警。传统的电池电压检测方法一般通过对电源电压进行分 压并通过ADC 采样实现检测。这种分压采样的检测方式需要额外的外部电路，这会给系统带 来成本 ，体积及功耗的增加。 本文基于 MSP430 FRAM 系列 MCU ，针对电池直接供电的应用，提出了无需外部分压电路， 利用片内ADC 进行低功耗供电电压检测的方案，并给出了方案的验证结果。 关键词：供电电压测量，低功耗采样，MSP430FR MCU 1 | P a g e ZHCA767 Contents 1. 使用MSP430FRAM MCU 片上ADC 检测电源电压原理 3 2. ADC 低功耗采样软件设计 4 2.1 系统时钟源的选择 4 2.2 ADC 时钟源的选择 4 2.3 未使用的GPIO 管脚的初始化 5 2.4 ADC 触发源的选择 5 2.5 采用ADC 窗口比较功能 6 3 ADC 误差校正及实验测试 7 3.1 误差校正 7 3.2 精度实验测试 7 4 分时复用ADC 实现其它通道的采集 8 5 总结 9 6 参考资料 9 List of Tables 表格1 不同参考时钟的功耗对比数据 4 表格2 LPM0 模式下有XT1CLK 时ADC 不同时钟源的功耗对比数据 4 表格3 ADC 在LPM0 和LPM3 模式下的功耗对数据 5 表格4 GPIO 管脚初始化配置功耗对比数据 5 表格5 ADC 不同触发源下的功耗数据 6 表格6 使用ADC 测量供电电压的测试数据 7 利用MSP430FR MCU 片上VREF 和ADC 实现低功耗电池电压测量 ZHCA767 1. 使用MSP430FRAM MCU 片上ADC 检测电源电压原理 MSP430FR2xx/ FR4xx 系列微控制器的ADC 模块示意图如图 1。可以看出，ADC 可直接 对内部参考电压（一般为1.5V,具体请查看技术手册）进行采样 ，且ADC 的参考电压可配 置为电源电压。不同的 MCU 型号参考电压所对应的ADC 通道可参考器件数据手册中的 “ADC Channel Connections”表格。 VCC