多元自相关过程控制与诊断方法分析-管理科学与工程专业论文.docx

摘 要 统计过程控制技术广泛应用于过程监控以减少过程变异、提高产品质量。传 统的统计过程控制技术要求观测数据是独立同正态分布的，然而在许多工业过程 中这一假设很难得到满足，例如化工、冶金等行业，数据常常是多元自相关的。 研究多元自相关过程的控制与诊断方法，对企业提高市场竞争力具有重要意义。 本论文的主要研究内容包括： 1. 残差 T2 控制图平均运行链长（ARL）的计算方法。首先得出残差对均值 偏移的动态响应，然后得到残差 T2 统计量的分布，据此可以得到每一时刻 T2 统 计量超出控制限的概率，最后代入 ARL 的定义式，可以得出一个有限项的 ARL 计算公式。并通过该方法精确计算残差 T2 控制图具有相同非中心参数的不同偏 移的 ARL，证明了残差 T2 控制图不具有方向不变性。 2. 样本数量对残差 T2 控制图性能的影响。通过仿真研究了不同的样本数量 对多元自相关过程残差 T2 控制图平均运行链长性能的影响。仿真的结果表明， 对于多元自相关过程，小样本情况下残差 T2 控制图使用 F 分布控制限比使用卡 方控制限其实际 ARL 更接近于理论值。最后根据仿真的结果得出了使用 F 分布 控制限时残差 T2 控制图要获得接近于理论值的 ARL 所需的样本数量。 3. 误差项不服从多元正态分布对残差控制图性能的影响。通过仿真研究了 多元自相关过程误差项为不同自由度的多元 t 分布时对残差 T2 控制图与残差 MEWMA 控制图的性能影响，指出残差 T2 控制图对正态性假设非常敏感，而具 有较小平滑参数的残差 MEWMA 控制图对正态性假设比较稳健。最后，评估了 残差 MEWMA 控制图选取较小的平滑参数对不同大小的过程偏移造成的性能损 失。 4. 基于支持向量机分类的二元自相关过程监控与诊断方法研究。提出了基 于支持向量机分类器的二元自相关过程监控和诊断的方法，与现有的同时具有监 控和诊断功能的神经网络方法和 Z 控制图方法对比的结果表明，所提方法在监测 小偏移以及中等偏移时监控性能优于已有的方法，并且具有更好的诊断效果。 关键词： 多元自相关过程 平均运行链长 正态性假设 异常诊断 ABSTRACT Statistical process control (SPC) has been widely used for monitoring processes to reduce variability and improve product quality. A basic assumption in traditional statistical quality control is that the observations are independently and identically distributed; however, this assumption may not be valid in many industry processes. Examples include chemical and metallurgy processes where multivariate observations are often highly autocorrelated. So, reasearch to autocorrelated process control is of great significance to upgrade maket competitiveness of enterprise. The detail research includes the following aspects. Computation method of average run length for residual-based T2 control chart. In this dissertation, the expression of residual is first obtained according to its dynamic response to mean shift, then the distribution of T2 statistic applied to the residual is derived, thus the probability of the T2 statistic lying outside the control limit can be calculated. In the end, the above-mentioned results are substituted into the infinite definition expression o