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2012 届本科毕业设计(论文)外文 文献翻译 学 院： 物理与电子工程学院 专 业： 电子科学与技术 姓 名： 学 号： (用外文写)外文出处： (用外文写) and Technology 附 件： 1.外文资料翻译译文；2.外文原文。 附件1：外文资料翻译译文 一种基于DS18B20的温度探测系统 摘要 所有的DS18B20传感器，用于多点温度测试，IO总线与MCU连接，温度数据的轮流收集。如果系统有大量的传感器，MCU的时间用在处理温度数据明显延长，因此周期替代测试变得更长。在本文中，一种新的方法，DS18B20的合理组合和一些在软件上采取的措施，替代试验进展速度明显。 关键词：DS18B20的集团，温度测试，轮流测试所花费的时间。 引言 由于结构简单，安装方便，低损失和广泛的用途的温度测试，DS18B20温度测试传感器应用领域，需要多点温度测试，如化学工业，粮食，环境监督管理等。因为通过一个DS18B20的多点温度测试系统总线，所有DS18B20是挂在一条总线上，然后每个温度测试点的值转换轮流读。作为转换后读值必须阅读8次引脚的状态，移动时间，位置和存储数据，所以时间多花费在阅读每一个点的数据系统时间。如果温度测试系统是大型系统由它造成的损失是相当多的，然后交替测试系统的运行速度明显降低，从而影响多点温度测试系统的效率。在本文中，DS18B20的一些I / O总线上都挂着分组DS18B20的均匀，温度转换获取数据读取DS18B20的状态， 系统损耗减少和替代测试速度增加显然，这将不会影响精度和转换的可靠性。一套点对多点温度，在此实现人工环境实验室测试，这增加了测试效率。 作者对DS18B20的认识 DS18B20是单总线数字温度传感器来自美国达拉斯公司。 DS18B20是由64数字光盘刻激光，温度敏感性组成部分，非易失性温度报警触发器（设备TH和TL）。DS18B20的通信微处理器单总线端口和测试范围DS18B20是从-55摄氏度到+125摄氏度，增量值是0.5摄氏度。温度可在720ms的数字改为每个DS18B20具有唯一的64数字序号。图1揭示的具体内容：两个8的数字储量（0号和1号），用于存储在DS18B20的温度值。0号存储存储器温度值，补充和一号存储器温度值的符号。用户可以定义非挥发的温度报警台和区分报警搜索命令，并寻求组件温度预定限额以外的报警状态。有两个电源的替代方法：信号总线的高级别借采用电源或+5V外部电源直接采用。 图1 DS18B20的64位ROM 应用程序的分组试验方法 本文阐述了DS18B20与89C52接口的分组方法。假设量P1口的总线是和温度测试系统需要100 DS18B20的传感器，可以平均分配4 I / O线。如果传感器的数量不能分割由总线数目甚至，传感器的数量差距总线上是不超过一个，它可以处理，而阅读数字。外部供电电源。拥有在每个DS18B20的同时性的转换，激烈当前是必要的，不能使用和信号总线电源，否则系统无法工作秩序。 “电路原理图2所示（DS18B20的信号同组的公共汽车上都挂着P1口的一些公共汽车）。当读写DS18B20的，严格的时间表被保留。首先回归脉冲被发送到所有DS18B20的。后回归，跳过ROM命令发送到每个电路同时的I / O端口，转换顺序发送的，那么所有的传感器开始转变。转换后，匹配ROM命令同时发送到每个电路，64位序列号发送。 DS18B20是每个选择组，便签数据读取。最后的数据是转化。串行读取数据转化为实际温度值。一名候补测试完成后DS18B20温度数据读取完全由周期性的读数为25倍。 图2 DS18B20的分组示意图 现在，在单总线和分组分析法测试系统耗时分别说明。回归时间序列和时间序列的写作和阅读的一个位微处理器在数字4-6中显示。DS18B20的回归周期为495us，1020us;一位写作时间是60us-120us;一位读期间以上60us;写入或读取下位跨度是微秒。由于A / D转换时间为97.35ms（9精密度），如果它是由最短的方法计算，替代测试总耗时分别计算如下： 单总线： 495us+2*(8*60+7)us+97.35ms+495us+100*(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us=552.534ms 分组模式： 495us+2*(8*60+7)us+97.35ms+20(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us=189.804ms 作为数制转换和存