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几种电子电路测试技术探讨 　　[摘 要]数字电路安装之前对所选用的数字集成电路器件进行逻辑功能测试，避免因器件功能不正常而增加调试的困难。本文分析探讨了几种电子电路的测试技术，供参考。 　　[关键词]数字电路，集成电路，测试 　　数字电路安装之前，对所选用的数字集成电路器件进行逻辑功能测试，避免因器件功能不正常而增加调试的困难。检测器件功能的方法有多种多样，常用的方法为：①仪器测试法，即应用数字集成电路测试仪进行测试；②替代法，将被测器件替代正常工作数字电路中的相同器件，检测被测器件功能是否正常；③功能实验检查法，用实验电路进行逻辑功能测试。 　　 　　一、集成门电路的测试 　　 　　集成门电路静态测试，一般采用模拟开关输入模拟高、低电平，用发光二极管显示方式或万用表、逻辑测试笔测试输出的高、低电平，看其是否满足门电路的真值表。动态测试时，各输入端接人规定的脉冲信号，用双踪示波器直接观察输入、输出波形，并画出这些脉冲信号时序关系图，看输入输出是否符合规定的逻辑关系。 　　 　　1．CMOS门电路的测试 　　以CC4012为例进行分析。CC4012是双四输入与非门，两个四输入端的与非门制造在同一器件内。14脚接电源VDD，7脚接地。2、3、4、5为一个与非门的输入端，1为输出端；9、10、11、12为另一与非门输入端，13为输出端。测试时，测试电路应正确连接，以