材料分析方法-李晓娜-《材料析方法》总复习.pptVIP

第一篇 X射线衍射分析方法 X射线在材料研究中的应用？ (1) 物相分析（定性和定量）； (2) 残余应力测试； (3) 织构测试 第二篇 电子显微分析 衍射衬度（衍衬）形成原理完整晶体衬度原理（等厚和等倾条纹）非完整晶体衬度原理（层错和位错）位错衬度的本质是 —— 应变场衬度 扫描电镜（SEM）工作原理电子束作用样品表面产生的各种物理信号（二次电子、背散射电子、特征X射线）电子探针（能谱仪和波谱仪）工作原理电子探针的工作方式及其应用背散射电子衍射（EBSD）工作原理及其应用 Think you for your attention! 3. 简述电子探针的三种工作方式及其应用目的？ 【参考答案】 （1）定点分析：一般用以确定第二相的成分； （2）线分析：一般用以确定在特定方向上合金元素的分布特征； （3）面分析：一般用以确定特定区域内合金元素的分布特征。 倒易空间与倒易点阵 22.4 22.4 13.55 R，mm 113 113 200 {hkl} 2.7329 2.7329 R22： R12 113 -113 200 hkl 501.76 501.76 183.6025 R2 0.1073 0.1073 0.1773 d，nm （3） （2） （1） 斑点序号 2.75 相机常数L? =2.403nm.mm 与面心立方的R212比值规律接近，据此判断为面心立方结构 依据面间距值，晶格常数 a = 0.3717nm，可见与X射线法相比误差别较大 2） 立方晶系夹角公式 设第一个衍射斑指数为（200），第二斑点的指数{113}要与（200）的夹角为108°。以此为约束条件，即可求得第二衍射斑指数为（-113）。 验算： 接近实测的108°，表明结果正确 2） 000 200 -113 113 -1-1-3 1-1-3 -200 晶带轴指数： （1） （2） （3） 2） 3） 综合两谱标定的结果确定该样品的点阵类型、点阵常数；一个单胞内包含的阵点个数。 点阵类型：面心立方； 点阵常数：0.3561 nm； 单胞内包含的阵点个数：4 请绘制出该样品的正点阵及倒易点阵示意图，标定倒易阵点，并给出正、倒点阵常数的关系式。 4） 正点阵 倒易点阵 a b c 000 200 002 020 a* b* c* 111 202 022 220 222 请在正点阵及倒易点阵示意图中绘出如下晶面的位置： (202), (222)。 5） 000 200 002 020 a* b* c* 111 202 022 220 222 [100] [010] [001] (202) (222) 正点阵 倒易点阵 [100] [010] [001] * * 《材料分析方法》 总 复 习 第一章 X射线物理基础 两种X射线谱 ● 连续X射线谱 — 短波限 ● 特征X射线谱 — 莫赛来定律 — 临界激发电压 — 光电效应 — 激发限 — 吸收限及其应用 — 二次特征辐射 （荧光X射线） 第二章 X射线衍射方向 X-射线衍射需要解决的两个问题： ? 衍射方向； ? 衍射强度 ? 衍射方向 布拉格方程 —— 基本理论 倒易点阵和爱瓦尔德图解—— 工具 布拉格方程的讨论： 2dsin ? = ? — 干涉指数； — 晶面间距 — 入射X射线波长 倒易点阵 爱瓦尔德图解 第三章 X射线衍射强度 — X射线衍射强度公式中各符号的物理意义； — 结构因子及其应用； — 系统消光； — 立方系晶体的系统消光规律 第四章 多晶体分析方法 熟悉并掌握X射线衍射仪 的基本结构及其工作原理 第五章 物相分析 掌握X射线物相定性与定量分析 的基本原理 第六章 点阵常数精确测定 掌握利用X射线进行材料点阵常数精确测定的基本原理 第七章 宏观残余应力分析 掌握X射线宏观残余应力测试 的基本原理及常用方法 第八章 织构测试 掌握X射线织构（极图）测试 的基本原理 总 结 第一章 电子光学基础 （1）了解电磁透镜的工作原理和特点 （2）掌握加速电压和电子波长的关系 第二章 透射电子显微镜 了解TEM结构 掌握两种成像模式 明场像和暗场像 第三章 电子衍射 电子衍射与X-射线衍射的主要区别 电子衍射花样的实质 电子衍射基本公公式 电子衍射图谱的标定过程 正点阵与倒易点阵的关系 第四章 透射电子显微镜成象原理 第五章 扫描电镜（SEM） 一、填空题（每空1分，共15分） 1. 电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线 （特征）波长 的谱仪叫波谱仪，用来测定X射线 （特征）能量 的谱仪叫能