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1999年10月18日 版權所有 禁止翻印 1999年10月18日 版權所有 禁止翻印 Statistical Processing and ControlSPC 統計過程控制 統計過程控制概述 統計 統計過程控制概述 定義﹕將輸入轉化為輸出的一組彼此相關的資源和活動。 統計過程控制概述 兩種過程控制模型和控制策略﹕ 缺陷檢測過程模型﹑具有反饋的過程控制模型 統計過程控制概述 具有反饋的過程控制模型 統計過程控制概述 兩種過程狀態﹕ 過程是統計受控的﹑過程是不受控的 統計過程控制概述 兩種控制措施﹕ 系統措施﹑局部措施 統計過程控制概述 持續改進過程循環的各個階段 統計過程控制概述 貝爾試驗室的Walter休哈特博士在二十世紀二十年代研究了控制圖來區分過程變差的普通原因及特殊原因產生的變差。 使用控制圖改進過程是一個重復的程序﹐多次重復收集﹑控制及分析几個基本的步驟。首先﹐按計划收集數據﹔然后﹐利用這些數據計算控制限﹐控制限是解釋用于統計控制數據的基礎﹔當過程處于統計控制狀態﹐控制限可用來解釋過程能力。為了使過程在控制和能力上得以改進﹐就必須識別變差的普通及特殊原因并據此改進過程﹔然后該循環又重新開始﹐更多的數據被收集﹑解釋并且作為采取措施的基礎。 統計過程控制概述 合理使用控制圖能﹕ 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 收集數據 畫圖 計算試驗控制限 將試驗控制限及中心線畫在圖上 分析極差圖和均值圖 分析特殊原因﹐采取措施消除 修正數據或重新采集數據 重新畫圖和計算控制限 計算過程能力性能和指數 分析過程能力 保持過程﹑改進過程 控制圖制做及應用程序圖 統計過程控制―控制圖 A 收集數據 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―控制圖 P-Chart 管制界限 統計過程控制―控制圖 統計過程控制―過程能力 常用的指數和比值 統計過程控制―過程能力 指數﹕ 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 統計過程控制―過程能力 Cp=1.00 Cp1.00 μ T μ T 3σ 1.00≦Cp1.33, 顯示工程能力並不 充足,但尚且可以. 要注意有發生不良 品之雇慮,必要時應提 升工程之能力. 3 Cp1.00顯示工 程能力不足. 在這種狀況下會出 現不良品.必需藉著作 業方法之改善,規格之 再檢討,機械設備之改 善,來提升工程能力. 4 3σ 3σ 3σ μ -3 σ -2 σ -1 σ +3 σ +2 σ +1 σ 68.27% 95.45% 99.73% 0.135% 0.135% Table 1 Quality levels and Corresponding Number of Defects Cpk為什麼要大於或等於1.33 ? y x 1.Cp=0.67時,穩態控制下不合格品率為4.6%; 2.Cp=1.00時,穩態控制下不合格品率為0.27%; 3.Cp=1.33時, 穩態控制下不合格品率為0.0063%=63PPM T=8 σ 6 σ 在圖例上表示為中心沒有偏移 (實際中心值與規格中心重合) Table 1 DR=DRL+DRR DR(Defect Rate):總不良 DRL (Defect Rate Left) :左不良 DRR (Defect Rate Right) :右不良 T/2 μ UCL LCL DRR DRL * * QS9000培訓教材 隨機現象 自然界和社會上發生的許多現象﹐具有以下的性質﹕ 每次觀察或試驗﹐結果不確定。 大量重復觀察或試驗﹐結果呈現某種統計規律。 兩種隨機變量 計數型（離散型）Attributes 計量型（連續型）Varibles。 抽樣試驗 几個常見的朮語﹕母體﹑個體﹑樣本﹑樣本容量﹑抽樣頻率。 字母符號代表意義﹕ X﹕平均值 R﹕全距 X﹕中位數 X﹕個別值 σ﹕標准差（群體） S﹕標准差（樣本） Σ﹕總和 P﹕機率 Pn:不良數 p﹕不良率 q﹕良品率 α﹕生產者冒險率 β﹕消費者冒