高品质低温多晶硅薄膜晶体管的制作与周边一体化设计-凝聚态物理专业论文.docxVIP

高品质低温多晶硅薄膜晶体管的制作与周边一体化设计-凝聚态物理专业论文.docx

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
高品质低温多晶硅薄膜晶体管的制作与周边一体化设计-凝聚态物理专业论文

摘要 高品质低温多晶硅薄膜晶体管的制作与周边集成一体化设计 黄金荚 导师:凌志华 摘要 平板显示器的后起之秀OLED的有源驱动显示技术的发展以及显示器周边 驱动电路的集成一体化强烈依赖于LTPSTFT技术的发展,而制备高品质的LTPS TFT的关键是高品质多晶硅薄膜的低温制备技术。 本文首先讨论了紫外辅助晶化法和金属诱导晶化法低温制备多晶硅薄膜的 方法及工艺条件,并且利用XRD、SEM、Rarnan光谱等分析测试手段对制备的 多晶硅薄膜的品质进行分析。还提出了一种新的多晶硅薄膜的低温制备方法,即 金属诱导一双次激光退火晶化法(MI bi—ELA)。 金属诱导晶化法是一种很有前景的大晶粒多晶硅薄膜的低温制备技术,本文 详细讨论了Ni金属诱导晶化的机理,并且建立了横向晶化的一维数学模型,为 金属诱导晶化制备多晶硅薄膜的晶化长度、晶化速率提供了估算方法以及选择退 火温度、时间的参考。 本文介绍了P.Si TFT的电学特性,总结出了器件的重要参数的测试和提取 办法:介绍了AIM.Spice关于多晶硅TFT的仿真模型及其建立,并且给出了模 型的改进方案。应用仿真器不仅可以模拟p—Si TFT的器件特性,还能为设计制 作D—Si TFT及其构成的电路提供参考。 OLED与LTPS TFT的结合以及显示部与周边驱动Ic集成一体化是平板显 示的发展趋势。本文设计并仿真分析了基于低温多晶硅的OLED象素驱动电路; 并且首次对基于LTPS TFT的基本逻辑单元、简单的灰度显示用周边驱动电路进 行设计仿真。 本工作的主要目的是研究低温制备多晶硅薄膜的方法、工艺条件及制备机 理,从而能够制备出高品质的LTPS TFT:通过建模、仿真分析LTPS TFT器件 及其组建的电路评价器件的性能,为进一步研究集成一体化技术奠定基础。 关键词:低温多晶硅薄膜晶体管,制备,AIM—Spice,仿真,集成一体化 Abstmct Fabrication of LTPS TFT with High Qualities and Design for Integration of Peripheral Drive circuits Huang Jinying Directed by:Ling Zhihua Abstract Developing the active drive technology of new flat panel display(FPDs)device OLED and integrating t}le driver IC with the pixel on glass both intensely depend on the development of the technology of LTPS TFt The key to fabricate high qualities LTPS TFT is to prepare p-Si thin film at low temperature. Firstly,the thesis foCUS on the best technique processes for the preparation of p—Si thin film at low temperature both by UV-assisted crystallization and metal.induced crystallization.Some modem analyzing methods such as XRD.SEM and Raman spectrum were utilized to characterize tlle structure and the properties of the prepared p-Si thin film.A new method to prepare p-Si thin film at low temperature was proposed.namely MI bi—ELA. Metal—induced crystallization is a perspective technology for preparation of the large.grain P—Si at low temperature.The mechanism of Ni—induced crystallization was discussed in detail.A model for crystal growth during metal.induced crystallization of amorphous silicon has been proposed to predict crystal g

您可能关注的文档

文档评论(0)

131****9843 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档