原子力显微镜在聚合物膜研究方面的应用.ppt

原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所发明的 * * 原子力显微镜在聚合物膜研究方面的应用 学生：李红剑 导师：曹义鸣 大连化学物理研究所905组 Seminar 2 1982 年,Gerd Binnig 和Heinrich Rohrer 共同研制成功了第一台扫描隧道显微镜( scanning tunneling microscope ,STM), 1986 年,Binnig 和Rohrer 被授予诺贝尔物理学奖。衍生出一系列扫瞄探针显微镜（Scanning Probe microscope） 扫描探针显微镜具有三个传统显微镜无法达到的重大突破 扫描探针显微镜具有极高度的解析力 扫描探针显微镜具有三维立体的成像能力 扫描探针显微镜可以在多种环境下操作 这些显微技术都是利用探针与样品的不同相互作用，来探测表面或界面在纳米尺度上表现出的物理性质和化学性质。 AFM的优点 STM 的探针是由针尖与样品之间的隧道电流的变化决定的, STM要求样品表面能够导电，只能直接观察导体和半导体的表面结构。 对于非导电的物质则要求样品覆盖一层导电薄膜，但导电薄膜的粒度和均匀性难以保证，且掩盖了物质表面的细节。 原子力显微镜利用原子之间的范德华力来呈现样品的表面特性。因此，AFM 除导电样品外，还能够观测非导电样品的表面结构，且不需要用导电薄膜覆盖，其应用领域将更为广阔。 原子力显微镜的硬件架构 力检测部分 位置检测部分 反馈系统 在原子力显微镜的系统中，是利用微小探针与待测物之间交互作用力，来呈现待测物的表面之物理特性。 AFM的工作原理 ????????????????????????????????????????????????????????????? ???为原子的直径 ??为原子之间的距离 在原子力显微镜（AFM）的系统中，使用微小悬臂来感测针尖与样品之间的交互作用，这作用力会使悬臂摆动，利用激光将光照射在悬臂的末端，当摆动形成时，会使反射光的位置改变而造成偏移量，此时激光检测器会记录此偏移量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整，最后再将样品的表面特性以影像的方式给呈现出来。 接触式原子力显微镜（contact AFM） －利用原子斥力的变化而产生表面轮廓。 非接触式原子力显微镜non-contact AFM） －利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓。 间歇接触模式原子力显微镜(Intermittent-Contact AFM) －是接触与非接触两种模式的混合。 AFM的分类 原子级的高分辨率 AFM的三大特点 光学显微镜的放大倍数一般都超不过1000倍;电子显微镜的放大倍数极限为100万倍; 而AFM的放大倍数能高达10亿倍, 观察活的生命样品 电子显微镜的样品必须进行固定、脱水、包埋、切片、染色等一系列处理,因此电子显微镜只能观察死的细胞或组织的微观结构; 原子力显微镜的样本可以是生理状态的各种物质,在大气条件或溶液中都能进行,因而只需很少或不需对样品作前期处理,这样,就使AFM能观察任何活的生命样品及动态过程。 加工样品的力行为 测试样品的硬度和弹性等;AFM还能产生和测量电化学反应。AFM还具有对标本的分子或原子进行加工的力行为,例如:可搬移原子，切割染色体，在细胞膜上打孔等等。 1988 年，Albrecht 等人首次用它观测聚合物膜的表面，从此AFM 为聚合物膜的研究敞开了一扇崭新的大门。 分辨率能达到原子分辨水平； 样品不需复杂的预处理，避免了由此所带来的测量误差； 对操作环境的要求较宽松，在空气或液体(水、氯化钠溶液等)中 观测都可以； 操作力很小，能成功地观测软的物质表面。 AFM 聚合物膜研究中所表现的优点 图上亮点表示膜表面的最高点，暗点表示膜表面的凹陷或膜孔，这样膜的表面整体形态在图象上一目了然。 AFM在聚合物膜研究的应用现状 1 表面整体形态研究 2 孔径和孔径分布研究 3 粗糙度研究 4 膜污染研究 1 表面整体形态研究 Fig. 1. Section analysis of TM-AFM image. 1 Fig. 2. Three-dimensional TM-AFM images of the PVDF membranes (W0, W3, W5, W7). 不同水含量 2 2 孔径和孔径分布研究 孔径和孔径分布是表征膜的重要参数 Fig. 2. Tapping mode atomic force micrographs of (a) (scan size: 500 nm, scan rate: 0.4268 Hz), and (