损伤对猕猴桃果实电特性影响.PDFVIP

6 2011, Vol. 32, No. 05 食品科学 ※基础研究 1 2 1, 唐 燕 ，杜光源 ，张继澍 * (1.西北农林科技大学生命科学学院，陕西 杨凌 712100 ；2.西北农林科技大学理学院，陕西 杨凌 712100) 以猕猴桃品种“海沃德”果实为材料，采后果实经50cm 高处自由落体碰伤处理，利用日置智能 LCR 测 试仪测定了果实的 6 个电参数( 复阻抗 Z 、并联等效电容 Cp 、并联等效电感L p 、损耗系数D 、电导 G 、阻抗相 角 θ)在 6 个电场频率(100 、158、251 、398 、631kHz 和 1MHz)条件下的变化，以及随着贮藏时间的延长各电参 数的变化。结果表明：在(25 ± 1) ℃条件下，随着电激频率的增加，无论损伤果还是对照果，Z 、L p 均呈逐渐 减小的变化趋势，Cp 、G 呈逐渐增加的变化趋势，D 呈现先上升后下降的变化趋势， θ呈现先下降后上升的变 化趋势。损伤果采后Z 在 6 个电激频率条件下都显著低于对照果，所以Z 可作为区分其损伤与否的敏感电参数。在 100kHz 和 251kHz 两个电激频率条件下，损伤果采后D 值显著高于对照果，所以在这两个特征频率条件下D 可作 为区分“海沃德”猕猴桃果实损伤与否的敏感电参数。 猕猴桃；损伤；电特性；敏感电参数 Effect of Damage on Dielectric Properties of Kiwifruits 1 2 1, TANG Yan ，DU Guang-yuan ，ZHANG Ji-shu * (1. College of Life Science, Northwest AF University, Yangling 712100, China ； 2. College of Science, Northwest AF University, Yangling 712100, China) Abstract ：In this experiment, the post-harvest fruits of kiwifruit cultivar,, Hayward,, were selected to create a damage model through free-fall movement from a height of 50 cm. An intelligent LCR Hioki tester was used to determine changes in 6 electrical parameters of fruits such as complex impedance (Z), parallel equivalent capacitance (Cp), parallel equivalent inductance (Lp), loss coefficient (D), conductance (G) and impedance phase angle ( θ) at electric shock frequencies of 100, 158, 251, 398, 631 kHz and 1000 kHz with the extension of storage time. Results indicated that both damaged and control fruits presented a decrease trend