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基于IEEE1500的SoC中存储器内核内建自测试设计研究-检测技术与自动化装置专业论文
摘 要
随着半导体技术的高速发展,嵌入式存储器在 SoC(System on Chip,片上系统) 中所占的面积比重越来越大,这种发展趋势在今后将愈发明显。在这种情况下,对 SoC 中的嵌入式存储器进行高效和准确的测试成为 SoC 产业继续向前发展的迫切需 求。
本文以 IEEE 1500 测试标准为基础,对 SoC 中嵌入式存储器内核的内建自测试进 行研究。文中重点研究了基于 IEEE 1500 标准的 IP(Intellectual Property,知识产权) 核测试 Wrapper,对测试 Wrapper 的各个组成部分进行详细的研究和讨论,同时根据 设计的实际需求对 Wrapper 的各个组成部分进行了优化设计。文章对 MBIST(Memory Built-in Self-test,存储器内建自测试)控制器进行了深入的研究,为了达到测试 ROM 内核的目的,本文将 MISR(Multi-Input Signature Register,多输入线性反馈移位寄器) 合理地嵌入到 MBIST 控制器中,所以本文中的 MBIST 控制器可以分别测试 SRAM 和 ROM 两种嵌入式存储器内核,这样做即提高了测试效率,同时也大大减少了测试 的硬件开销。
本文的创新性点是:其一,设计了基于 IEEE 1500 标准,且同时兼容 SRAM 和 ROM 核测试的 MBIST 系统;其二,设计了 March 算法测试指令自动生成系统和 ROM 数据特征值自动生成系统;其三,为 MBIST 系统添加了 Avalon 系统接口,搭建了基 于 NIOS II 软核的 SOPC(System-on-a-Programmable-Chip,可编程片上系统)硬件测试 平台。
关键词:嵌入式存储器;SoC;IP;IEEE 1500;Wrapper;MBIST;MISR
I
Abstract
With the rapid development of semiconductor technology, the area proportion of embedded memory in the SoC (System on a Chip) is increasing, and the development trend in the future will become more apparent. In this case, efficient and accurate testing of the embedded memory in the SoC is an urgent demand to forward the development of SoC industry.
This paper research BIST (Built-in Self-test) for memory core in SoC based on IEEE 1500 standard, and focuses on the research of IP (Intellectual Property) kernel testing of Wrapper based on IEEE 1500 Standard, each of the part of test Wrapper were studied and discussed in detail, at the same time, each part of Wrapper were optimized designed according to the actual demand of design. This paper intensively studied the MBIST (Memory Built-in Self-test) controller, in order to achieve the purpose of testing the ROM kernel, MISR (Multi-Input Signature Register) is reasonably embedded into the MBIST controller, so the MBIST controller in this paper can be respectively to test SRAM and ROM memory cores, it not only improves the test efficiency, but also greatly reduce the hardware overhead of test.
The main original contributions of this paper
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