基于IEEEP1687的可测性设计研究-测试计量技术与仪器专业论文.docxVIP

独创性（或创新性）声明 本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究 成果。尽我所知，除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外，论文中不包 含其他人已经发表或撰写过的研究成果；也不包含为获得桂林电子科技大学或其它 教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何 贡献均已在论文中做了明确的说明并表示了谢意。 申请学位论文与资料若有不实之处，本人承担一切相关责任。 本人签名： 日期： 关于论文使用授权的说明 本人完全了解桂林电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定，即：研究生 在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属桂林电子科技大学。本人保证毕业离 校后，发表论文或使用论文工作成果时署名单位仍然为桂林电子科技大学。学校有 权保留送交论文的复印件，允许查阅和借阅论文；学校可以公布论文的全部或部分 内容，可以允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。（保密的论文在解密后 遵守此规定） 本学位论文属于保密在 年解密后适用本授权书。 本人签名： 日期： 导师签名： 日期： 摘 要 随着现代芯片生产工艺的高速发展，嵌入式仪器的应用越来越广泛。如何实现 嵌入式仪器的高效访问并兼容传统的板级测试标准成为一个新的问题。IEEE P1687 （IJTAG）标准定义了一种由嵌入式仪器到 JTAG 的高效、灵活且统一规范的仪器 接口和可变扫描链路径，其通过在扫描链中插入可实现扫描路径变化功能的节点— SIB，使得系统中的扫描链具有灵活可变的特性。在针对嵌入式仪器的访问过程中 根据访问操作需要选择扫描链路径，以尽可能的移除不必要的扫描链，从而减少测 试过程中移位操作的扫描链长度，达到节约测试时间，提高访问效率的目的。 本文介绍了 IEEE P1687 这一新标准，分析了传统的 IEEE 1149.1 标准在嵌入式 仪器访问应用中的缺点及 IEEE P1687 的优势，并设计实现了 IEEE P1687 标准中核 心部分 SIB 和 GateWay 的功能，设计实现了 P1687 的单层、多层和混合多层网络 结构，并对相应的扫描链路径变化功能进行了仿真验证。最后提出了基于 IEEE P1687 网络的并发进程与顺序进程两种访问方式，通过对访问操作中每一步的分析 计算得出 IEEE P1687 网络的总体访问时间（OAT），并与相同情况下 IEEE 1149.1 网络的总体访问时间（OAT）进行了对比。 验证结果表明本文所设计的多个 IEEE P1687 网络能够很好地完成扫描链路径 的选择功能，且通过对不同情况下的网络总体访问时间（OAT）分析，表明 IEEE P1687 网络的并发进程访问方式具有更优的访问效率。本文所设计的基于 IEEE P1687 标准的可变扫描链在嵌入式仪器的访问操作方面拥有一定的性能优势，对国 内的电子设计自动化领域的发展具有一定的积极意义。 关键词：可测性设计；IEEE P1687 标准；IJTAG；嵌入式仪器；SIB；可变扫描链。 I Abstract With the rapid development of modern chip production process, the embedded instrument more and more brought into play widely. How to achieve efficient access to embedded instrument and compatible with the traditional board-level testing standards has become a new problem. IEEE P1687 (IJTAG) standard defines an embedded instrumentation to the JTAG with efficient, flexible and unified standardized instrument interface and variable scan chain path. The scan path changes in the scan chain insertion node-of SIB, making the system have flexible and variable characteristics. Access for embedded devices based on the access operations need to choose the path of the scan chain to remove unnecessary scan chain, thereby reduci