用广义逆法解决摄影测量系统的非线性问题.PDFVIP

用广义逆法解决摄影测量系统的非线性问题.PDF

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第 !% 卷 第 ! 期 北 京 机 械 工 业 学 院 学 报 J@A K !% L@ K ! ’! 年 ( 月 ?@61/4A @B :-CDC/2 E/F7C767- @B 34GHC/-1I 341 K’! !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 文 章 编 号: ( ) !# $ !%# ’! ! $ (% $ ) 用广义逆法解决摄影测量系统的非线性问题 张靖瑜,董明利,吕乃光,邓文怡 (北京机械工业学院 电子信息工程系, 北京 !# ) 摘 要:为了提高双 **+ 摄影测量系统对大 口径且具有反射表面物体的近 场三维测量精度,提出用最小二乘广义逆法解决成像系统的非线性问题,分析比较了 用最小二乘广义逆法和 ,-.-/0-12 $ 种方法解决成像系统的非线性问题,并 采用投影生成特征点法,对圆抛物面形卫星天线进行测量,重构其面形。实验表明, 该系统操作简单、实用性强,消除系统的非线性问题后,测量精度提高 ’ 8 ,测得面形 与理论面形相当吻合,可用于大型物体的面形测量。针对被测物具体条件,选择合适 的算法消除系统的非线性问题及合适的光照条件有助于提高系统性能及其实用性。 关 键 词:摄影测量;非线性方程组;最小二乘广义逆法;特征点 中图分类号: 文献标识码: 9: #%( ; 随着科学技术的不断进步,人们对三维物体的测量也取得了长足的进步。立体摄影测量 以其非接触、快速、方便、成本低等优点得到了日益广泛的应用,特别是在航空摄影、大地测绘、 机器人视觉等领域,更是具有其它方法无法比拟的优势。但由于它受光照环境、接收系统的限 制,使其测量精度仍然不能达到精密仪器所能测得的数量级, 摄像机系统的非线性即是一 **+ 个重要的误差因素,本文将介绍一种简单、快速的方法来补偿系统的非线性。对具有反射表面 的物体使用光学方法测量三维形状还没有这方面的研究,本文采用特殊的环境,完成了对具有 反射表面的天线的测量和重构工作。 ! 摄像机模型及测量原理 尽管不同的测量系统采用了不同 的数学模型,但忽略透镜畸变的原因, 摄影测量都是基于小孔成像 的原理。 从物空间点到像空间点实际上是一个 透射投影的关系,如图 ! 所示。 经过整理物像关系(左右摄像机 图 ! 双 **+ 摄影测量原理图 同)如下: ! # ! $ $! $ $ $ $# $ () [ ] ! [ ] ! ! # ! $ %! $ % $ %# % 收稿 日期: ’! $ ! $ = 作者简介:张靖瑜( ),女,河北秦皇岛人,北京机械工业学院电子信息工程系硕士研究生,主要从事数字近场摄影测量 !=% $ 的基础应用研究。 第 期 张靖瑜等:用广义逆法解决摄影测量系统的非线性问题 *0 式中 , , 是物空间一点三坐标,, 是此点对应的像面坐标。 [ … ],这 ! #

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