PIAS颗粒分析系统.docVIP

PIAS 颗粒分析系统 Particles Image Analysis System 快速参考手册 概述 欢迎使用PIAS颗粒分析软件。PIAS颗粒分析系统是一工作在Windows操作系统下的24位真彩色通用颗粒检测与分析系统。PIAS采用先进的颗粒分析算法，能对各种颗粒进行处理、分析和检测，是颗粒检测与分析的有效工具。 一、PIAS能完成那些工作 PIAS提供的颗粒处理与分析功能，覆盖颗粒定量分析的几乎所有应用领域，包括材料、冶金、医药、生物、化工、摩擦学等各种需要利用颗粒手段进行统计学和形态学自动分析、测定的领域。凡是与颗粒形态学有关的各种检测与分析都可以利用PIAS来完成。例如组织细胞形态学分析，金属显微组织及晶粒度分析，油料中污染物含量分析，农业种子形态分析，各种微小异行零件几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等都可以利用PIAS来完成。利用PIAS提供的分析结果，可使企业质量控制更具科学依据，提高企业管理水平和对外形象，是企业从事科技新产品开发，产品质量监控的有效工具。PIAS亦可作为理论教学、实验分析和基础科学研究的有效工具。 二、PIAS的主要特点 符合GB15445，美国ASTM112 及ISO9276标准； 支持TWAIN接口标准扫描仪及数字相机，支持多种颗粒采集卡； 充分利用WINDOWS系统资源，全面支持WIN98，WINme/WIN2K/WINXP操作环境； 最新的程序设计手段，全汉化图文界面，可泊位图形工具条，使用简洁、直观、方便、快捷，只需点击鼠标，便可完成分析； 提供在线中文帮助提示，无需专业培训，便可掌握使用方法； 提供多种功能强大的区域选取工具，可对任意形状的区域进行处理与分析； 可完成包括色度调整，颗粒变形，数学形态学处理，颗粒增强，颗粒匹配，纹理分析，特征识别等一百多种专业颗粒处理与分析功能； 支持24位真彩色颗粒采集、支持RGB、CMY、HSV、Lab、YUV等彩色模型的处理与分析； 分析数据的可视化处理使分析结果与颗粒之间构成直接映射关系，便于观察分析； 先进的颗粒自动识别、粘连颗粒自动切分功能，保证了复杂颗粒的准确分析； 自动分析处理步骤编辑功能，能够完成全自动分析过程的设置； 悔步、重复功能，使用户能够找到最佳处理路径； 几何参数测量功能，细长体、块状体、颗粒体、线状体等各种特征体的自动定量分析功能，分析参数达一万多项。 分析结果可存入数据库，进行统计分析，制作图表，打印报告，并可以照片质量输出颗粒。 三、PIAS主要处理与分析功能 几何尺寸检测 点、直线、曲线、圆、椭圆、矩形、任意形的长度、角度、面积、周长等几何参数测量。测量单位微米、毫米、厘米、分米、英寸任选； 2．颗粒变形及几何矫正 水平镜像、垂直镜像、平移、倾斜，缩放、旋转、透视、漫游、任意、网状变形等； 3．区域选取工具 魔杖、套索、椭圆、矩形、圆形工具、方形工具； 4．区域处理 区域反选，区域扩大，区域缩小，边界圆滑、平移、缩放、旋转、任意变形； 5．颗粒处理 色调处理 负象、灰值化、色调调整、颜色平衡、亮度反差调整； 图增象强 照明场均匀、直方图拉伸、直方图均衡，灰值函数变换等； 边缘检测 Roberts、Laplace、Kirch、Prewitt、水平、垂直、左45、右45等边缘检测； 颗粒平滑 均值、中值、低通滤波等； 灰值形态学 腐蚀、膨胀、开、闭，开闭、波峰、波谷、形态学梯度、混合滤波等； 颗粒常数运算 RGB各通道加、减、乘、除、乘方、指数等运算； 颗粒间运算 RGB各通道加、减、乘、除、与、或、非、与非、或非、最大、最小、距离、特征与等运算； 其他滤波器 自定义滤波器、马赛克、黑斑去除、黑区增强等； 6．分析目标处理 分析目标扩大，分析目标缩小，边界圆滑、分析目标删除、孔洞填充、内外轮廓抽取、形态学梯度，骨架化，骨架纯化，分支修剪，断点修复等； 7．分析参数 共十一类，包括： 几何参数 位置参数 当量几何参数 外接几何参数 光密度参数 形态学参数 矩参数 纹理参数 孔洞参数 其他参数 其中个体参数100多项，统计参数100多项，分析参数。总数达10000多项。 9．分析参数可视化处理 分析结果与颗粒之间直接影射显示。特定目标及其长轴、质心、外接矩形、凸包，编号等抽取显示。分析目标不同透明度颜色叠层显示； 10其他功能 系统还提供了吸管、画笔、填充、直线、移动、剪裁等十多种交互式处理工具； 五、PIAS使用方法简介 欢迎使用PIAS颗粒分析软件。PIAS采用先进的颗粒分析算法，能对各种颗粒进行处理、分析、检测。 PIAS可分为以下几个功能部分： 1．颗粒处理部分 2．区域选取与处理部分 3．分析目标选取与处理部分 4．目标分析部分 5．颗粒输入输出部分 6．系统参数设置