基于bis t的fpg a测试方法研究-仪器科学与技术专业论文.docxVIP

南昌航空大学硕士学位论文 目 录 The Research of Testing FPGA Method Based on BIST A Dissertation Submitted for the Degree of Master On Detection Technology and Automation Equipment by Zhang Tong Under the Supervision of Prof. Zhang Xiaofeng , Cheng Benmao The College of Information Engineering Nanchang Hangkong University, Nanchang, China Jun, 2013 南昌航空大学硕 南昌航空大学硕士学位论文 目 录 I I 摘要 随着电子科学技术的发展，现场可编程门阵列（FPGA）作为一种可编程器 件，已经成为当今世界上使用的最为普遍的一种半导体器件，在现代电子系统 设计中扮演着越来越重要的角色，但随着 FPGA 的广泛应用，对其可靠性与准 确性的要求也变得越来越严格。因此，对 FPGA 器件的故障诊断、故障检测方 法以及可测性设计技术进行深入的研究显得尤为重要。 论文首先介绍了 Altera 公司的 Cyclone Ⅱ系列 EP2C8Q208C8 的 FPGA 的 结构和主要的特性。根据 Cyclone Ⅱ系列器件各组成模块的功能和特点，可以 将其分为可编程逻辑单元(LE)、输入输出功能块(IOB)、互连资源(IR)、嵌入式 内存块等四大部分组成。 对于 Cyclone Ⅱ系列的 FPGA，可采用“分治法”分别对这几个功能模块 进行测试。本文主要对可编程逻辑单元、互连资源、嵌入式内存块的测试进行 研究。采用的测试方法为内建自测试（Built-Inself-Test）方法，简称为 BIST。 在对可编程逻辑单元的测试中，测试向量生成（TPG）采用了伪穷举法来生成， 输出响应分析（ORA）采用的是多输入移位寄存器（MISR）与（测试输出分析） TRA 的结合应用。对于嵌入式内存块的测试采用的是一种 MARCH 算法。文中 运用 QautusⅡ编译软件进行编译并仿真。运用 BIST 的方法能够减少对于 FPGA 配置的次数，减少测试时间，并且相对于自动测试设备能够减少测试所需的资 金。 关键字：故障检测；内建自测试；TPG；ORA；MARCH 算法； I II Abstract As the development of the electronic technology, field programmable gate array (FPGA) as a kind of programmable devices, is using the most widespread semiconductor devices in the world, and plays a more and more important role. But with the widely application of the FPGA, the accuracy and reliability of the requirement is becoming more and more important. Therefore, it is necessary to conduct a comprehensive in-depth study for the fault diagnosis method and detection and measurability design techniques . The beginning of the Paper introduces the architecture and major characteristic of FPGA which is CycloneⅡseries EP2C8Q208C8 of Altera corporation. According to the Cyclone Ⅱ series device functionality and features , it can be divided into logic element (LE), input/output block (IOB), interconnect resources (IR), embedded memory blocks four major part. For Cyclone Ⅱ series of FPGA, using the method of divide and conqu