超声检测灵敏度调节探讨.PDFVIP

个人资料：张平，天津诚信达金属检测技术有限公司，全国特种设备无损检测考 委会超声组组长。 超声检测灵敏度调节的探讨 超声检测是常规无损检测常用的一种检测方法，随着数字超声检测技术的发 展，数字超声探伤仪基本取代了模拟超声探伤仪。但是，在实际检测中数字超声 探伤仪会出现缺陷漏检现象，仪器性能指标符合标准要求，漏检是由于实际检测 中仪器探伤灵敏度没有正确设定而导致。 一、三种不同的灵敏度 1、系统灵敏度 系统灵敏度就是仪器和探头的综合灵敏度，指的是整个检测系统能够检测出 最小缺陷的能力。系统灵敏度越高，则检测出的缺陷越小。系统灵敏度取决于仪 器和探头的组合性能。 2、探伤灵敏度 探伤灵敏度是根据验收产品的技术条件或专门超声检测标准中明确规定的 检测系统要检测出的最小缺陷的能力。探伤灵敏度常作为缺陷定量的依据。 3、扫查灵敏度 在探伤时，为了容易发现缺陷而防止漏检，采用适当高于探伤灵敏度的灵敏 度称为扫查灵敏度。 扫查灵敏度不宜过高，过高仪器荧光屏上会出现杂波(信噪比下降)，并使始 波展宽，给判定缺陷造成困难。扫查灵敏度也不能低于评定线灵敏，低于评定线 灵敏会使不允许存在的小缺陷探测不出来造成漏检。扫查灵敏度主要是用于提高 扫查速度的情况下，保证记录缺陷不漏检。 二、系统灵敏度 仪器和探头组合性能主要有灵敏度、盲区、分辨率和信噪比等。仪器和探头 组合在一起的综合性能不仅与仪器有关，而且与探头也有关。 仪器和探头的系统灵敏度是整个探伤系统，主要是探伤仪和探头组合在一起 所具有的能够探测最小缺陷的能力。系统灵敏度常用灵敏度余量来表示。灵敏度 余量是指仪器最大输出时，增益与发射强度置于最大位置，衰减抑制旋钮置于 “0”位置时，使规定的反射体回波达到基准高度时，仪器所衰减的总量。灵敏 1 度余量主要是由探伤仪和探头决定的。 灵敏度余量大，说明仪器和探头的综合灵敏度高，灵敏度越高，则检测系统 能探测出的缺陷越小。不同的仪器和不同的探头组合有不同的灵敏度余量。 系统灵敏度校准就是针对已知探测距离、人工反射体几何尺寸的基准反射体 的基准波高进行标定的过程。其目的就是在实际检测中，对仪器检测范围内的未 知反射体的反射当量进行定量。 仪器系统灵敏度的校准常用方法有试块调整法和工件底波调整法。 试块调整法是根据实际检测对灵敏度的要求选择相应的试块，将探头对准试 块上的人工反射体，调整仪器上的有关灵敏度键扭，使荧光屏上人工反射体的最 高反射回波达基准高度，并考虑灵敏度补偿后，这时仪器系统灵敏度的校准完成。 例如：厚度大于20mm的钢板是利用φ5平底孔来调节仪器系统灵敏度的， 具体方法是将探头对准φ5平底孔，仪器保留一定的灵敏度余量，［抑制］至 “0”，调［增益］使φ5平底孔最高反射回波达到荧光屏满幅度的50%作为基准 波高，并考虑灵敏度补偿后，这时仪器的系统灵敏度就调好了。 用试块法调节探伤灵敏度，不受有无底波或底波是否平整的限制，也不受声 程大小的限制，即可以探测厚度小于3N的工件，也可以用于探测厚度大于3N 的工件。但是，使用试块法调节探伤灵敏度，要根据探伤要求制作一套与工件材 质相同的对比试块，如果试块与工件的表面粗糙度相差太大、材质衰减大时，还 要考虑耦合损耗和衰减损耗的补偿问题。 例如：用2.5P20Z直探头，探测厚度400mm的锻件，探伤灵敏度为400/φ2 平底孔。 调整方法：将探头对准工件大平底底面，［衰减器］衰减50dB，调节［增益］ 使第一次底波达到80%，然后使［衰减器］的衰减量减少44dB，即［衰减器］保 留6dB，这时400/φ2平底孔灵敏度就调节完毕了。 如果粗探时为了便于发现缺陷，可以将［衰减器］再减去6dB，作为扫查灵 敏度来进行扫查，但是，当发现缺陷并对缺陷定量时，［衰减器］应提高6dB。 用底波法调节灵敏度，不需要加工制作对比试块，也不需要考虑耦合衰减的 补偿问题。但是，使用底波法调节探伤灵敏度要受声程的限制，底波法只能用于 探测厚度大于3N的工件，不适用于探测厚度小于3N的工件。 2 三