原子吸收光谱分析法(火焰或石墨炉).pptVIP

5．狭缝宽度：由于原子吸收光谱法谱线的重叠较少，一般可用较宽的狭缝，以增强光的强度。但当存在谱线干扰和背景吸收较大时，则宜选用较小的狭缝宽度。 式中：S为绝对灵敏度；C为试液中待测元素的浓度（g/mL）；V为试液的体积mL；A为吸光度。 2．检测极限：指仪器所能检出的元素的最低浓度或最小质量。 定义为：能给出信号强度等于3倍噪声信号强度标准偏差时所对应的元素浓度或质量。 计算式为： 式中D为检出极限（μg/mL或g）；σ为对空白溶液进行不少于10次测量时的标准偏差；A为吸光度；g为质量（g）。 §4—3 原子吸收光谱法定量分析 原子吸收光谱法是一种元素定量分析方法，它可以用于测定60多种金属元素和一些非金属元素的含量。 一．定量分析方法： （一）标准曲线法：配制一系列不同浓度的待测元素标准溶液，在选定的条件下分别测定其吸光度，以测得的吸光度A为纵坐标，浓度为横坐标作图，得到标准曲线。 再在相同条件下测定试液的吸光度，由标准曲线上就可求得待测元素的浓度或含量。 1．配制标准溶液时，应尽量选用与试样组成接近的标准样品，并用相同的方法处理。如用纯待测元素溶液作标准溶液时，为提高测定的准确度。可放入定量的基体元素。 2．应尽量使得测定范围在T=30～90%之间（即A=0.05～0.5），此时的测量误差较小。 3．每次测定前必须用标准溶液检查，并保持测定条件的稳定。 4．应扣除空白值，为此可选用空白溶液调零。 2. 标准加入法： 取两份体积相同的试样溶液，设为A和B，在B中加入一定量的待测元素，然后分别将A和B稀释到相同体积，再分别测定其吸光度。 设A中待测元素的浓度为Cx吸光度为Ax，B中的待测元素浓度为Cx+Co(Co为加入的标准样品的浓度)，吸光度为A，则： Ax=KCx A=K(Cx+Co) 两式相比得： Cx=Co×Ax/(A－Ax) 由此式就可得到待测元素的含量。 作图的方法 ：取四份以上的体积相同的试液，从第二份开始，分别按比例加入不同量的待测元素，将这些溶液全部稀释到相同体积，此时，各溶液中待测元素的浓度分别为：Cx，Cx+Co，Cx+2Co，Cx+3Co等。 测定各溶液的吸光度，并以吸光度对加入的待测元素的浓度（增量）作图，得如下曲线： 将直线延长至与横坐标相交，交点与原点之间的距离所代表的浓度值就是试液中待测元素的浓度。 注意事项：须线性良好；至少四个点；只消除基体效应，不消除分子和背景吸收；斜率小时误差大。 二．干扰及其消除 （一）谱线干扰： 如：在Ni的分析线232.0nm附近还存在231.6nm的谱线， 如：用308.22nm的谱线测定铝时，如果存在钒，钒对308.21nm的谱线要产生吸收， （二）背景吸收：由于原子化器（火焰和石墨炉）中存在的气体分子和盐类所产生的吸收以及存在的固体颗粒对光的散射引起的干扰，叫背景吸收。 1）邻近线背景校正 用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度，因非共振线（邻近线）不产生原子吸收 用它来测量背景吸收的吸光度。两者之差值即为原子吸收的吸光度。 因为共振线（此时为分析线）的总吸光度AT包括基态原子的吸收A和背景吸收AB，即AT=A+AB 通过测量共振线旁的“邻近线”的吸收，得到AB 此时得到净吸收度A=AT-AB 2）连续光源背景校正（氘灯或氢灯校正法 ） 先用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和。再用氘灯在同一波长测定背景吸收（这时原子吸收可忽略不计）计算两次测定吸光度之差，即为原子的吸光度。 （三）化学干扰：化学干扰是指在溶液中或气相中由于待测元素与其它组分之间的化学反应而引起的干扰。 1．加入释放剂：在测定时加入一种能与干扰组分生成更稳定或更难挥发化合物的试剂，而使待测元素释放出来，从而消除干扰。 如：在测定钙时，加入锶，它能与磷酸根形成更稳定的化合物而使钙释放出来。 2．加入保护剂：加入一种能与待测元素生成稳定增长化合物的试剂，使得待测元素不与干扰组分反应。而生成的化合物又很容易挥发和原子化，对测定不干扰。 如：测定钙时，加入EDTA使其生成稳定化合物CaY，CaY又很容易挥发和原子化，从而消除了磷酸根对钙测定的干扰。 3．化学分离：将待测组分和干扰组分分离。 4．提高火焰温度也可以抑制或避免某些干扰。 （四）物理干扰： 是指试样在转移、蒸发和原子化过程中由于试样任何物理因素的变化而引起的吸光度下降的效应。如：试液的粘度影响取样速度，表面张力影响雾滴的大小等。 对于物理干扰，最好的消除方法就是配制与试样溶液组成相似的标准溶液。也可用标准加入法来进行测定。 （五）电离干扰： 电离干扰是指待测元