2019年SPC统计制程管制讲义.ppt

統計制程管制講義( SPC );前 言;3) X – R Chart (中位數圖); 4) X – MR Chart (單值和移動极差圖); 5) P – Chart (不合格品率圖); 6) nP – Chart (不合格品數圖); 7) C – Chart (不合格數圖);; ; ★ 通常由與過程直接相關的人員實施 ★ 大約可糾正15%的問題 對系統采取措施 ★ 通常用來消除變差的普通原因 ★ 几乎總是要求管理措施,以便糾正 ★ 大約可糾正85%的過程問題; 有反饋過程控制系統模型; 控制圖的益處 合理使用控制圖能: ★ 供正在進行過程控制的人員了解狀況 ★ 有助于過程在質量上和成本上持續地,可 預測地保持下去 ★ 使過程達到: -----更高的質量; -----更低的單件成本 -----更高的有效能力 ★ 為討論過程能力提供共同的語言 ★ 區分變差的特殊原因和普通原因,作為采取 局部措施或特殊措施的指南 ;使用控制圖的準備 ★ 建立適用於實施的環境(準備充分的實施條 件) ★定義過程 ★ 確定測量系統 ★ 使不必要的變差最小(人員,量具等) ;制作管制圖的步驟 1. 收集數据 1.1 選擇子組大小﹑頻率和數据 a.子組大小-----計量型第一個關鍵步驟 就是“合理子組的確定”-----這一點將決; b.子組頻率-----其目的是檢查經過一段 時間后過程中的變化. c.子組數的大小-----子組數的大小應滿; 足,兩個原則,從過程的角度來看,收 集越多的子組可以確保變差的主要 原因有機會出現.一般情況下,包含 100或更多單值讀數的 25 或更多個 子組,可以很好地用來檢驗穩定性,如 果過程已穩定.則可以得到過程位置 ; 和分布寬度的有效的估計值. 1.2 建立控制圖及記錄原始數据 1.3 計算每個子組的均值(X)和极差(R) 對每個子組,計算: R=X最大值 – X最小值 X = (X1 + X2 + ….+ Xn) / n 式中: X1 , X2….為子組內的每個測量值.; n為子組樣本容量. 1.4 選擇控制圖的刻度 對于X圖,坐標上的刻度值的最大值與最 小值之差應至少為子組均值(X)的最大 值與最小值差的 2 倍.對于 R 圖,刻度值 應從最低值為 0 開始到最大值之間的差; 值為初始階段遇到的最大极差( R )的 2倍. 1.5 將均值和极差畫在控制圖上 2. 計算控制限 2.1 計算平均极差( R ) 及過程平均值 ( X ) 在研究階段,計算: R = (R1+R2+….+Rk) / k X = (X1+X2….+Xk) / k ; 式中: k 為子組的數量. 2.2 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的 普通原因時子組的均值和极差的變化 範圍.按以下公式計算控制限: UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X+A2R LCLX=X-A2R;n; 對於樣本容量小於 7 的情況, LCLR技術上 為一個負值.這种情況下沒有控制下限. 2.3 在控制圖上作平均值和极差控制限的控制 線將极差( R )和過程均值( X )畫成水平實 線,各控制限(CUCLR , LCLR , UCLx ,LCLx) 畫成水平虛線. 3.過程控制解釋; 3.1 分析极差圖上的數据點 由于不論解釋子組极差或子組均值的