实验72振动样品磁强计测量内禀磁特性.docVIP

实验7.2振动样品磁强计测量内禀磁特性 1959年美国的S. F o n e r在前人的研究基础上制成实用的振动样品磁 强计（简记为VSM）。由于其具有很多优异特性而被磁学研究者们广泛采用， 并又经许多人的改进，使V SM成为检测物质内禀磁特性的标准通用设备。所谓 “内禀”磁特性，主耍是指物质的磁化强度而言，即体积磁化强度M——单位体 积内的磁矩，和质量磁化强度。——单位质量的磁矩。设被测样詁的体积为V （或 质量为m）,由于样品很小，如直径1mm的小球，当被磁化后，在远处，可将 其视为磁偶极了：如将样品按一定方式振动，就等同于磁偶极场在振动。于是, 放置在样品附近的检测线圈内就冇磁通量的变化，产生感生屯压。将此电压放人 变成直流并加以记录，再通过电压磁矩的已知关系，即可求出被测样品的M或。。 实验目的 掌握VSM工作原理；利用实验室提供的设备，具体测量实际材料的M或。 实验原理 如图7.4-1所示，体积为V、磁化强度为M的样品S沿Z轴方向振动。在其 附近放一个轴线和Z轴平行的多匝线圈L,在L内的第n匝内取面积元d Sn, 其与坐标原点的矢径为r 磁场沿X方向施加。出于S的尺度与-相比非常小, 故S在空间的场可表为偶极场形式： ?石尹 - a （7.4-1） 注意到M值有X分量，则可得到检测线圈L内第n匝屮d Sn面积元的磁通为 (7. 4-2)d^n=^Hzdsn=dSn (7. 4-2) 其中Uo为真空磁导率。而第n匝内的总磁通则为 整个L的总磁通则为 0也”也琳第尹 0也”也琳第尹ds” n n W n (7. 4-3) (7.4-4)其中，Xn为J的X轴分量，不随时间而变；Zn为J的Z轴分量，是时间的函 数。为方便计，现认为s不动而L以S原冇的方式振动，此时可冇 爲■翳9五，盅为第n匝的坐标，a为L的振幅。由此可得到检测线圈内 的感应电压为 (7.4-4) =KMT coscot = KJ coscot 显然，精确求解上式是困难的，但从该方程却能得到一些冇意义的定性结论, 那就是：检测线圈中的感应电压幅值正比于被测样品的总磁矩J =MV （或J = o m）, .!=［和检测线圈的结构、振动频率和振幅有关。如果将（7. 4-4）式屮的K 保持不变，则感应信号仅和样品总磁矩成正比。预先标定感应信号与磁矩的关系 后，就可根据测定的感应信号的大小而推知被测磁矩值，因此，在测出样品的质 量和密度后，即可计算岀被测样品的磁化强度M、 o o M=p o , P为材料的 密度。 |振动子卜 信号发生器扳动杆、 图7.4-2振动样品磁强计结构原理图振动样品磁强计主要工作原理如 下：信号发生器产生的功率信号加到振 动了上，使振动了驱动振动杆作周期性 运动，从而带动粘附在振杆卜端的样品 作同频同相位振动，扫描电源供电磁铁 产生可变磁化外场 |振动子卜 信号发生器 扳动杆、 图7.4-2振动样品磁强计结构原理图 岀则馈给记录仪X轴。这样，当扫描电源变化一个周期后，记录仪将描出J-H 冋线。J的大小，又必须由己知磁矩的标准样品定标后求得。如：己知Ni标样 的质量磁矩为。o,质量为m（）,其J 0= o 0m0o用N i标样取代被测样品，在完 全相同的条件下加磁场使Ni饱和磁化后测得Y轴偏转为Y。，则单位偏转所对应 ++ H图7.4-3 “退磁场”的产牛的磁矩数应为K= aomo/ Yo,再由样品的J-H回线 上量得样品某磁场下的Y + + H 图7.4-3 “退磁场”的产牛 就■警上?石 磁场下的磁化强度 绻** ，或被 测样品的质量磁化强度 * 岭■ ,p为 样晶密度，m为样品的质量。这样，我们即可根拯实测的J-H冋线推算岀被测 样品材料的M-HM线，所要注意的是，这里的H为外磁场。也就是说，只冇在 可以忽略样品的“退磁场”情况下，利用VSM测得的回线，方能代表材料的真 实特征，否则，必须対磁场进行修正后所得到的冋线形状，才能表示材料的真实 特征。所谓“退磁场”，可作如下的理解：当样品被磁化后，其M将在样品两端 产生“磁荷”，此“磁荷对”将产生与磁化场相反方向的磁场，从而减弱了外加 磁化场H的磁化作用，故称为退磁场。可将退磁场Hd表示为Hd= —NM,称 N为“退磁因子”，取决样品的形状，一般来说非常复杂，甚至其为张量形式， 只有旋转椭球体，方能计算出三个方向的具体数值；磁性测量中，通常样品均制 成旋转椭球体的几种退化形：圆球形、细线形、薄膜形，此吋，这些样品的特定 方向的N是定值,如球形严g 方向的N是定值, 如球形严g 冷卜厘廉克、秒M中为 沿细 线的轴线N=0,沿膜而N=0等。 通常，检测线圈都经过仔细调整，成对地配置在样品两侧，并按一定的绕向 和联接方式组成线圈对，使外界杂散信号尽可能互相抵消，而被测样品所产生的 信号则