品管七大手法概述(PPT).pptVIP

六.直方圖: 定義: 直方圖是將所收集的測定值或數據之全距分為幾個相等的區間作為橫軸,並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積,用柱子排起來的圖形. 製作次數分配表: A.由全體數據中找到最大值與最小值.如:200個數據 中之170和124. B.求出全距(最大值與最小值之差).全距=170-124=46 C.決定組數,一般為10組左右,不宜太少或太多. 參照下表進行分組: 數據數 組數 80～100 6～10 100～250 7～12 250以上 10～20 D.決定組距: 組距=全距/組數 E.決定各組之上下組界. (1).最小一組的下組界=最小值-測定值之最小位數/2 (2).最小一組的上組界=下組界+組距=123.5+4=127.5 依此類推. F.作次數分配表. 統計出位於各組界間之數據個數 G.用X軸表示數值,Y軸表示次數,繪出直方圖. 1.正常型 2.鋸齒型 直方圖常見的形態: 這種情形一般就來大都是製作直方圖的方法或數據收集方法不正確所產生 3. 絕壁型 4. 雙峰型 在理論上是規格值無法取得某一數值以下所產生之故,在品質特性上並沒有問題,但是應檢討尾巴拖長在技術上是否可接受;例治工具的鬆動或磨損也會出現拖尾巴的情形 兩種不同的分佈相混合,例如兩臺機器或兩種不同原料間有差異時,會出現此類情形,因測定值受不同的原因影響,應予層別后再作直方圖 5. 離島型 6.高原型 測定有錯誤,工程調節錯誤或使用不同原材所引起,一定有異常原因存在,只要去除,即可制造出合格的產品 不同平均值的分配混合在一起造成 7.偏態型 往往為加工習慣造成. 直方圖的應用: 1.測知制程能力,作為制程改善依據. 標準差S愈小愈好,平均值越接近規格中限越好. 兩邊無限延伸,當3S= 時,其分布規格範圍占總數據分布範圍的99.7%. 規格下限 規格上限 2 T N X1+X2+….+Xn X = 平均值 代表集中趨勢. n-1 (X1-X) +(X2-X) +….+(Xn-X) 2 2 2 標準差S= 代表分散程度. 正態分布: 三個重要指標: A.準確度Ca(Capability of Accuracy). 0 12.5% 25% 50% 100% A級 B級 C級 D級 規格中心(u) 規格上下限 實績中心值-規格中心值 規格容許差 X-U T/2 Ca= (%)= (%) B.精密度Cp(Capability of precision) 6σ 6σ 6σ 6σ D級 C級 B級 A級 SL U SU 規格下限 規格中心 規格上限 Cp0.83 0.83≦Cp1.0 1.00≦Cp1.33 1.33≦Cp 6σ T 規格容許差 6倍標準偏差 CP= = C.精確度CPK(制程能力指數): 它是Ca與Cp的綜合體現,既考慮了平均值偏離、規格中心的情形,又考慮了分布範圍與規格範圍的比較.它反映了一個制程在一定的因素與正常管制狀態下的品質作業能力,在規格確定后,平均值不偏離規格中心的情形幾乎不存在,因此,就有了CPK. CPK=(1- Ca )*Cp=[(USL-LSL)-2*ABS(SL-CL)]/6σ 制程能力指數判定表: NO. Cp 分布與規格之關係 制程能力判斷 處 置 1 Cp≧1.67 Sl Su 太佳 制程能力太好,可酌情縮小規格,或考慮化管理與降低成本. 2 1.67Cp≧1.33 Sl Su 合格 理想狀態,繼續維持. 3 1.33Cp≧1.00 Sl Su 警告 使制程保持於管制狀態,否則產品隨時有發生不良品的危險,需注意. 4 1.00Cp≧0.67 Sl Su 不足 產品有不良品產生,需作全數遷別,制程有妥善管理及改善之必要. 5 0.67Cp Sl Su 非常不足 應採取緊急措施,改善品質並追究原因,必要時規格再作檢討. s s s s s 6σ-PPM制程介紹: 1.何謂6σ制程:(零缺陷的質量管理). 制程精密度 Cp=2.