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离散数据分析 第9部分： 第9部分： 离散数据 离散数据 分析 分析 9.1 9.1 GE Appliance Copyright 1999 离散数据分析 第9部分 ：离散数据分析 第9部分 ：离散数据分析 目的： 在这一部分，我们将侧重如何分析离散数据，以及如何 使用分析来规划您项目的下一步。 目标： 1. 解释术语：DPU、DPO、首次合格率(YFT)、滚动合格率(YRT) 和正常平均合格率(YNA)。 2. 解释计算缺陷和机会的规则。 3. 解释计算工序ZLT 的方法。 4. 建立/运行用于六个西格玛产品分析的MINITAB 工作表。 5. 六个西格玛产品分析的输出结果分析 6. 确定下一步 9.2 9.2 GE Appliance Copyright 1999 离散数据分析 离散数据 离散数据 (也称为‘属性’ 或 ‘类别’ 数据) (也称为‘属性’ 或 ‘类别’ 数据) 离散数据是事件发生或没有发生的次数，用发生的 频数来度量。 可以用“ 水平”进行描述的数据。 离散数据还可以是有关类别的数据。例如：销售 区域、生产线、工作班次和工厂。 合格率是一般类 型的离散数据。 区域 无罪或有罪 离散数据不能够有意义地进一步 划分为更加精确的增量 离散数据的底线分析不同于连续变量！ 离散数据的底线分析不同于连续变量！ 9.3 9.3 GE Appliance Copyright 1999 离散数据分析 定义和术语 定义和术语 缺陷－ 产品中的任何不符合规范的地方。 主动： 先前确定、发现和计入的缺陷。 被动： 尚未发现，并且由于没有被查找而可能永远 无法发现的缺陷。 机会－ 您测定或测试的任何事物 主动 ： 被积极测试或检测的缺陷机会 被动： 可能存在，但是还没有被积极地查找或测试 的机会。 单元 - 检查或测试的部件、装置或系统。 9.4