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应用于高功率LED固晶制程之低温固晶技术-广化科技
應用於高功率 LED固晶製程之低溫固晶技術
在高功率照明 LED 封裝製程中,首重考量燈具之散熱需求,其
中又以固晶層的散熱需求受矚目。目前國內封裝廠常用之固晶製程方
式為銀膠固晶製程或 AuSn 共晶固晶製程,但由於銀膠熱阻
(3.0℃/W)過高與可靠度不佳等問題所產生的散熱瓶頸,無法滿足高
功率LED照明應用需求,而 AuSn 共晶固晶雖可解決散熱問題,但
因固晶溫度 (310℃)過高易導致晶片受損與發光效率降低,以及基板
受限 (不適用導線架)等問題,因此迫切需求兼具低熱阻(2.0℃/W) 、
高耐溫性 (250℃) 、低接合溫度(180℃) 、高可靠度的固晶製程技術。
為了滿足此一需求,本公司與工研院機械所合作開發創新的 LED
低溫固晶製程設備與技術,其不但能大幅降低固晶溫度,且具有低熱
阻,亦能節省固晶成本。目前所開發之低溫固晶 製程技術特點如下:
固晶材料 特性:如下表所示,低溫固晶材料兼具低固晶溫度、
高耐溫性及高接合強度等優勢。
固晶溫度 100℃
固晶層耐溫溫度 250℃
耐鹼清洗 可承受 1%KOH 20min
接合強度 50MPa
熱阻特性:各大廠封裝體的熱阻量測結果如下,低溫固晶具
有較低熱阻的優勢。
1. P 公司:2.0 K/W
2. C 公司A 產品 :1.5 K/W
3. C 公司B 產品 :1.7 K/W
4. O 公司:約為3.7 K/W
5. 低溫固晶:0.85 K/W
高溫接合強度:基板加熱至 260℃,晶片接合強度仍達 2kg
以上。
固晶層孔隙率分析:委託宜特分析結果無明顯孔隙。
可靠度測試:
1. Thermal Shock測試結果推力值幾乎呈現無降低 。
2. 高溫動態及高溫高濕動態測試無漏電的問題出現。
9.0
8.5
8.0
)
g 7.5
k
(
值 7.0
力
推 6.5
6.0
5.5
5.0
0 100 300 500 600 700 800 900 1000
Thermal Shock Cycles
低溫固晶
Hours/Test 55℃350mA 55℃7000mA 85℃85%350mA
Vf@T0 3.2424 3.2567 3.2227
△Vf@T160 0.0304 0.0180 0.0184
△Vf@T500 0.0369 0.0323 0.0269
△Vf@T750 0.0241 0.0529 0.0488
△Vf@T1000 0.0241
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