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统计过程控制（SPC）培训 4．? 二种常用控制图的计算公式： (1). X--R控制图 X—均值 R—极差 X控制图主要用于观察正态分布的均值的变化,R控制图主要用于观察正态分布的分散情况或变异度的变化。 控制对象：长度，重量，强度，纯度，时间等。 计算公式： X--R控制图 UCLX = X+A2R CLX = X UCLX = X+A2R UCLR = D4R CLR = R UCLR = D3R 备注：公式中的A2、D3、D4均为参数可以查表或计算得到。 (2). p控制图 p—不合格品率 p控制图主要用于控制对象为不合格品率或合格品等计数质量指标的场合。 控制对象：不合格品率，废品率，交货延迟率，等等。 计算公式： P控制图 UCLP = μp+3σp = P+3 P（1-P）/n CLp = μp = P UCLX = μp-3σp = P - 3 P（1-P）/n 备注：若P未知，则用求平均值的方法来估计，公式中用P来代替P值。 5.? 控制图的绘制 在X—R 图中，我们应该先做哪一个图？ （1）如果先作X图，则由于这时R图还未判稳，R的数据不可用，故不可行。 （2）如果先做R图，则由于R图公式中只有R 一个数据，可行。等R图判稳后，再作X图。 6．? 过程能力指数 CP ： 过程能力评价目的在于衡量产品分散宽度符合公差的程度. CP值越小,表示过程能力差,反之表示能力好 过程能力指数公式： CP = T/6σ=（TU-TL）/ 6σ≈ （TU-TL）/ 6σ TU是规格上限, TL是规格下限. 过程能力指数Cp值的评价参考 7. 有偏移情况的过程能力指数: 当产品质量特性值分布的均值μ与公差中心M不重合(即有偏移)时,显然不合格品率将增大,也即Cp值降低,故Cp公式所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情况,需要加以修正。 TL TU T/2 ε μ M PU 7. 有偏移情况的过程能力指数: 定义分布中心μ与公差中心M的偏移为 ε=│M - μ │ 以及μ与M的偏移度K为 K= 2ε/T (0K1) 过程能力值数修正为: Cpk=(1-K)Cp=(1-K)T/6σ≈ (1-K)T/6σ 当μ=M(无偏移)时,K=0,Cpk=Cp,即还原。 注意：Cpk也必须在稳态下求得。 * * 背景与概念： 为了保证预防原则的实现,20世纪20年代美国贝尔电话实验室成立了两个研究质量的课题组,一为过程控制组,学术领导人为休哈特(Walter A.Shewhart);另一为产品控制组,学术领导人为道奇(Harold F.Dodge)。其后，休哈特提出了过程控制理论以及控制过程的具体工具———控制图（control chart),现今统称为SPC。 所谓SPC（统计过程控制）就是：为了贯彻预防原则，应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和检察，从而保证产品与服务满足要求的均匀性。 产品质量的好坏是由过程质量来决定的,一个好的过程，它必须满足两个条件(1)处于受控状态(2)过程能力指数CPK值达到要求。所以持续的过程改善对每个公司来讲都非常重要。 在过程控制最基本的统计运用，便是控制图及过程能力分析.在说明过程统计方法之前，先就过程统计的观念作一下简介。 统计基础: (1).算术平均值—X(简称均值) 例如: A组:50,70,80,80,90 B组:40,60,70,80,90 则: XA=(50+70+80+80+90)/5=74 XB=(40+60+70+80+90)/5=68 统计基础: (2).极值—R R=Xmax-Xmin 例如: A组:30,50,60,70,90 B组:40,50,60,70,80 则: RA=90-30=60 XB=80-40=40 统计基础: (2).标准差--σ n Σ(Xi-X)2 = σ i=1 n 例如: A组:1,5,5,5,9 B组:1,1,5,9,9 则: σ A= [(1-5)2+(5-5)2+(5-5)2+(5-5)2+(9-5)2]/5 =2.53 σ B = 3.58 （一）预防与查误 有一句话在品管领域