基于CIS的自动光学检测系统关键技术研究-光学工程专业论文.docxVIP

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独创性声明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作 及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方 外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为 获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与 我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的 说明并表示谢意。 作者签名: 日期: 年 月 日 论文使用授权 本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘, 允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全 部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描 等复制手段保存、汇编学位论文。 (保密的学位论文在解密后应遵守此规定) 作者签名: 导师签名: 日期: 年 月 日 摘要 摘要 I I 摘 要 随着工业化与信息化的发展,现代制造业对于产品 AOI(自动光学检测)系 统的需求与日俱增,其中对于大尺寸、高精度的产品检测,线阵扫描 AOI 系统的 地位非常之重要。对精密电子、半导体、玻璃、纺织、造纸等高科技制造业领域 以及基础制造业领域,线阵扫描 AOI 已成为行业的核心及标准装备。大多的线阵 扫描 AOI 主要以 CCD(Charge-coupled Device:电荷耦合元件)线阵工业相机作 为成像系统。近年,由于 CIS(Contact Image Sensor:接触式图像传感器)成像系 统功耗低、结构简单、体积紧凑、成本低等特点,国内外呈现出向基于 CIS 的线 阵扫描 AOI 方向发展。 伴随中国在科技产业方面的飞速发展,产业调整升级势在必行,要实现―中国 智造‖,核心智造装备的自主化势在必行。线阵扫描 AOI 等高端装备国产化水平远 远不够,要缩短与国外领先者之间的差距,必须在系统设计关键技术方面开展深 入、系统的研究工作。 本文结合实际产品项目开发,从基于 CIS 的线阵扫描 AOI 的关键技术问题解 决角度出发,对以下几个方面进行了分析与实验,积累了相应工程经验,为国产 基于 CIS 的 AOI 装备的持续发展贡献应有的力量。 1.CIS 线阵相机的设计 根据线阵扫描 AOI 系统的对于成像系统的要求,对 CIS 线阵相机设计关键技 术研究。基于 FPGA(Field-Programmable Gate Array:现场可编程门阵列)的构 架平台,通过内外存储器流水式复用模型构建灵活、快速的大数据量存储与传输 模式,设计并实现了大数据、高速率的 CIS 线阵相机。根据测试结果,该相机在 300 dpi 分辨率下扫描速度为 140 ipm,延时小于 1 ms,压缩前后两幅图像的峰值 信噪比高达 86.9 dB。分析 CIS 曝光时间对于成像质量的影响,提出计算优化曝光 时间参数的方法。针对曝光时间相同,外触发行频信号不同所导致的图像亮度差 异问题产生的原理分析,通过使用二次触发法改进 CIS 线阵相机内部曝光机制解 决问题。数据证明,以上技术应用设计的 CIS 线阵相机扫的描速度和扫描效果完 全满足高端高速率的自动光学检测系统的要求。 2.CIS 的图像校正技术 分析和阐述 CIS 线阵相机成像的不均匀原因,在灰度两点校正法的基础上提 出适合与硬件系统优化计算的灰度两点校正法。理论证明优化后的算法与灰度两 点校正法相对的误差灰度范围小于 0.5 个灰度,又因灰度常以 0~255 范围的整数表 II II 示,所以图像的质量提高两种方法能够达到相同的效果。优化计算的灰度法由于 计算式相对简单,更适合在硬件平台的实现。为进一步提高 CIS 线阵相机采集的 图像质量,在灰度两点校正法基础上提出了多点分段单步校正法,采用 FPGA 在 图像高速采集的同时对图像进行校正,校正的延迟时间远小于上位机处理时间, 在 1 个驱动脉冲周期内即可完成校正,校正时间仅需 0.125 微秒,且校正后图像的 均匀性提高了 10 倍左右,相比传统两点法均匀性也提高了 3 倍左右,CIS 相机内 的色差基本消除。 3.宽幅面多段 CIS 图像拼接技术 针对自动光学检测系统对 CIS 线阵相机幅面不断增大的需求,研究宽幅的 CIS 相机图像拼接技术,分析图像拼接误差的来源和类型。提出多通道 FIFO 的图像拼 接重构方案,充分采集硬件资源,提高了多通道宽幅 CIS 相机数据拼接效率。600 mm 幅面的宽幅 CIS 相机,在 600 dpi 的光学分辨率,其 USB 2.0 接口的传输速率 可达 30 MB/s,采用 Camera-Link 接口,传输速率高达 120 MB/s。针对―之‖字型结 构的宽幅面多段 CIS 线阵相机图像拼接误差特性研究,提出并实现出了图像数据 快速拼接

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