基于CMOS图像的陶瓷基片检测的算法研究与设计 计算机应用技术专业论文.docxVIP

分类号： TP391 密 级： 单位代码： 10433 学 号： Y0705119 山东理工大学 硕士学位论文 基于 CMOS 图像的陶瓷基片检测的 算法研究与设计 The Algorithm Research and Design of Ceramic Substrate Detection Based on CMOS Image 研 究 生： 张 元 恒 指 导 教 师： 刘 晓 红(副教授) 申 请 学 位 门 类 级 别： 工 学 硕 士 学 科 专 业 名 称： 计算机应用技术 研 论 究 文 完 方 向： 人工智能技术 成 日 期： 2010 年 4 月 12 日 独 创 性 声 明 本人声明所呈交的论 文是我个人在导师指 导下进行的研究工作 及取得 的 研 究成 果 。尽 我 所 知 ，除 了 文 中特 别 加 以 标 注和 致 谢 的地 方 外 ，论 文 中 不包 含 其 他人 已 经 发表 或 撰 写 过的 研 究 成果 ，也 不 包含 为 获 得山 东 理 工 大学 或 其 它教 育 机构 的 学 位或 证 书 而 使用 过 的 材料 。与 我 一同 工 作 的同 志 对 本 研究 所 做 的任 何 贡献 均 已 在论 文 中 作 了明 确 的 说明 并 表 示 了谢 意 。 研 究生 签 名 ： 时间： 年 月 日 关于论文使用授权的说明 本 人完 全 了 解山 东 理 工 大学 有 关 保留 、使 用 学位 论 文 的规 定 ，即：学 校有 权 保留 送 交 论文 的 复 印 件和 磁 盘 ，允许 论 文 被查 阅 和 借阅 ；学 校 可以 用 不 同方 式 在不 同 媒 体上 发 表 、传 播 学 位论 文 的 全 部 或部 分 内 容，可 以 采 用影 印 、缩 印 或 扫描 等 复 制手 段 保 存 、汇 编 学 位论 文 。 (保密 的 学位 论文 在 解密 后应 遵守 此协 议 ) 研 究生 签 名 ： 时间： 年 月 日 导 师 签 名： 时间 ： 年 月 日 山东理工大学硕士学位论文摘要 山东理工大学硕士学位论文 摘要 I I 摘 要 随 着计 算 机 技术 和 光 电 技术 的 飞 速发 展 ，机 器视 觉 测 量技 术 得 到 了迅 速 发 展 和广 泛 应 用 ，它 作 为 一种 非 接 触检 测 手 段 日益 引 起 人们 的 重 视 。采用 机 器 视 觉 测量 技 术 进行 工 业 检 测 ，不 仅 能 够克 服 人 工检 测 带 来的 不 利 因 素 ，而 且 能 够 提 高检 测 精 度和 检 测 效 率，降 低 生产 成 本 。随 着机 器 视 觉理 论 研 究 的不 断 深 入， 机 器视 觉 检 测逐 渐 向 在 线实 时 检 测 、高 精 度 检测 方 向 发展 ，必 将 在各 领 域 中得 到 广泛 应 用 。 陶 瓷基 片 是 一种 陶 瓷 薄 板 ，其 生 产 工艺 是 先 冲压 后 烧 结成 型 。由 于冲 压 时 基 体材 料 较 软 ，冲 压 时 常带 有 一 定的 不 确 定 性 ，因 而 成 品尺 寸 有 一较 宽 的 离散 带 ，影 响 其 应用 。陶 瓷 基片 质 量 的检 测 主 要 检测 其 基 本特 性（ 成 分、状 态 、颜 色 等）、外 观 质 量（裂 纹 、斑 点 、缺损 等 ）、尺 寸公 差（ 外形 公 差 、垂直 度 、平 行 度 等 ） 和 产 品 规 格 （ 厚 度 、 外 形 ）。 目 前 基 片 生 产 企 业 对 基 片 的 质 量 检 测 主 要 靠人 工 完 成 。人 工 质 量检 测 速 度慢 ，而 且 随着 工 作 时间 的 延 长 易产 生 视 觉疲 劳，造 成 检验 误 差。而 随着 计 算 机硬 件 设 备 发展 及 像 素细 分 技 术 的出 现 ，使 得 利用机 器 视 觉测 量 技 术 实现 陶 瓷 基片 质 量 的 检测 成 为 可能 。 本 文主 要 研 究了 基于 CMOS 的 陶瓷 基 片 尺寸 检 测系 统 。 该系 统 采 用 光学 方 法 ，通 过 CMOS 摄像 机 获取 陶 瓷 基片 的 二 维 图像 数 据 ， 先 使 用 图 像处 理 软 件对 其 进行 图 像 预处 理 ，消 除各 种 图 像噪 声 ，再 采用 边 缘 检测 算 法 和 空间 矩 亚 像素 细分算法 对 陶瓷 基 片 图 像进 行 边 缘粗 定 位 和 精确 定 位 ，最 后根 据 系统 标 定 算法 测 得的 像 素 当量 进 行 尺 寸运 算 ， 即可 测 得 陶 瓷基 片 尺 寸。 本 文主 要 从 机器 视 觉 测 量系 统 的 组成 、图 像 噪声 的 处 理、边 缘