半成品SPC作业规范修改.pdf

1. 目的：為確保統計制程管制(SPC)系統能有效實施, 預防重大品質異常之發生. 2.範圍：本規範涵蓋製程自主檢驗, IPQC 檢驗, 化驗室等, 如客戶另有要求, 則依客戶要求 執行之. 3.權責： 3.1 工程人員訂定規格且製程穩定後由線上人員或 IPQC 負責相關管制圖資料之填寫及完成. 3.2 廠內化學藥液之管制由化驗室人員擔當 4.參考文件：統計技術管理程序 ( 1QQ02-005 ) 5.定義：無 6.作業流程：無 7.作業內容： 7.1 管制圖別, 實施站別, 管制項目, 規格值, 參考管制值, 檢驗工具, 取樣方式及擔當： 7.1.1 管制站別：如附件所示。 7.1.2 取樣頻率:符合 SPC 以連續性取樣為原則(組內變異小，組間變異大) 。 7.2 SPC 作業管制及規範： 7.2.1 規格及管制上下限：各站規格, 管制上下限如 SPC 管制圖、推移圖作業注意事項中所示. 7.2.2 各站作業規範：作業規範 ( 取樣方式, 數據取得, 製圖方式 )見各站 SPC 管制圖、推移圖 作業注意事項所示. 7.2.3 異常處理：異常處理之反應對象, 反應時效及處理方式見各站 SPC 管制圖、推移圖 作業注意事項所示. 7.2.4 每月 Cpk 檢討重要度:若 A 級在 1.67 以下由製程主導專案改善 若 B 級在 1.33 以下由製程主導專案改善 7.2.5 凡客戶有特殊要求時，按客戶要求執行。 7.2.6 管制圖之修正以每半年一次針對所有 A 級 Cpk1.67B 級 Cpk1.33 之製程作修正. 7.3 月報整理：各站于每月 1 號前將 X - R CHART 、推移圖送回品保, 以利 Cpk 計算及月報整 理; Cpk 計算公式如下: A. Ca 製程準確度: 用以衡量製程之實際平均值與規格中心值之一致性 實際中心值-規格中心值 a. Ca 之計算公式= 規格公差/2 1 規格公差=T= 規格上限-規格下限=USL-LSL 規格中心值=(規格上限+規格下限)/2 注意:單邊規格因沒有規格中心值故不能算 Ca b.等級判定: Ca 值愈小,表示品質愈佳 等級 Ca 值 A │ Ca │≦12.5% B 12.5% │ Ca │≦ 25 % C 25% │ Ca │≦50% D 50% │ Ca │ ( 若另 k=1- │ Ca │ 則 k 值越大越佳) B. Cp 製程精密度: 用以衡量製程之變異寬度與上下限範圍差異情形 a. Cp 之計算公式 規格公差 T 雙邊規格= = 6 個製程標準差 6δ 規格上限-實際中心值 USL - μ 上單邊規格= = 3 個製程標準差 3δ 實際中心值-規格下限 μ - LSL 下單邊規格= = 3 個製程標準差 3δ b.等級判定: Cp 值愈大,表示品質愈佳 等級