基于参数测量单元的芯片自动测试系统设计-模式识别与智能系统专业论文.docxVIP

摘要 通常采用示波器和万用表可以初步判断待测芯片引脚的好坏，但一般很难测 试芯片的性能指标。在芯片生产过程中，常常需要测试芯片的性能指标是否满足 设计要求，为此，论文设计了基于参数测量单元的芯片自动测试系统。 论文简要介绍了芯片 XD431 性能指标的测试要求，给出了以微控制器为核 心，PMU 为测量单元，继电器阵列为芯片引脚连接的硬件架构，设计了芯片自动 测试系统的电路原理图和 PCB 版图，编程实现了芯片 XD431 的六项性能指标(参 考电压、参考电流、最小电流、关断电流、动态阻抗、电压变化比)的自动测试功 能。最后通过实际测试表明论文设计芯片自动测试系统的有效性。 关键字： 参数测量单元 测试 继电器 LCD A Abstract Commonly, oscilloscope and multimeter are used to determine whether the pin of the chip is good or not, but it is difficult to test its performance indicators. In the chip production process, it is necessary to test whether the performance indicators of the chip meet the design requirements. Therefore, this paper designs the chip automatic test system using parametric measurement unit. This paper introduces briefly testing requirements of the chip XD431, gives a hardware architecture with microcontroller as the core, parametric measurement unit as the measuring unit, relay array as the chip pin connection, designs the circuit schematic and PCB layout of the chip automatic test system, and realizes the automatic test of the XD431 chip’s six performance indicators (reference voltage, reference current, minimum current, shutdown current, dynamic impedance, voltage change ratio) by programming. Finally, the actual testing shows that the chip automatic test system from this paper is effective. Keyword： Parametric Measurement Unit Test Relay LCD 目录 目录 HYPERLINK \l _bookmark31 HYPERLINK \l _bookmark31 3.5.3 运算放大器电路设计 29 HYPERLINK \l _bookmark32 3.5.4 电流测量电路设计 31 HYPERLINK \l _bookmark33 3.6 待测芯片连接电路设计 32 HYPERLINK \l _bookmark34 3.6.1 继电器 32 HYPERLINK \l _bookmark35 3.6.2 继电器驱动电路 33 HYPERLINK \l _bookmark36 3.6.3 XD431 引脚连接电路 34 HYPERLINK \l _bookmark37 3.7 本章小结 35 HYPERLINK \l _bookmark38 第四章 芯片自动测试系统的软件设计 37 HYPERLINK \l _bookmark0 第一章 绪论 1 HYPERLINK \l _bookmark1 1.1 课题研究背景 1 HYPERLINK \l _bookmark2 1.2 论文主要内容 2 HYPERLINK \l _bookmark3 第二章 参数测量单元 3 HYPERLINK \l _bookmark4 2.1 参数测量单元的发展历程 3 HYPERLINK \l _bookmark5 2.2 两种典型的