基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究.PDFVIP

第３１卷 第５期 世界科技研究与发展 Ｖｏｌ．３１ Ｎｏ．５ 　 　 ２００９年１０月 ８６１－８６３页 ＷＯＲＬＤＳＣＩＴＥＣＨＲ＆Ｄ Ｏｃｔ．２００９ ｐｐ．８６１－８６３ 基于ＢＩＳＴ的板级数模混合电路的可测性研究 王昶辉　朱　敏　杨春玲 （哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院，哈尔滨 １５０００１） 摘　要：本文通过对电路板可测性设计技术的广泛研究，提出基于板级ＢＩＳＴ技术的可测性设计方法，在此基础上设计和研制了具 有可测性的板级数模混合电路验证样机。该样机采用分块监测，逐级诊断的故障诊断策略，采用模块和元件两级故障定位方法， 验证平台的测试实验表明分级监测的可行性，指明了可测性设计和内建自测试技术的研究新思路。 关键词：可测性设计；数模混合电路；故障诊断；内建自测试 中图分类号：ＴＰ２０６＋．３　　　文献标识码：Ａ　　　 ＡＴｅｓｔａｂｉｌｉｔｙＲｅｓｅａｒｃｈｏｆＢｏａｒｄｌｅｖｅｌＭｉｘｅｄＣｉｒｃｕｉｔＢａｓｅｄｏｎＢＩＳＴ ＷＡＮＧＣｈａｎｇｈｕｉ　ＺＨＵＭｉｎ　ＹＡＮＧＣｈｕｎｌｉｎｇ （ＤｅｐａｒｔｍｅｎｔｏｆＥｌｅｃｔｒｉｃａｌＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，ＨａｒｂｉｎＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｈａｒｂｉｎ１５０００１） Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｔｈｒｏｕｇｈｗｉｄｅｌｙｒｅｓｅａｒｃｈｏｎｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙｃｉｒｃｕｉｔｄｅｓｉｇｎ，ｔｈｉｓｐａｐｅｒｐｒｏｐｏｓｅｓｔｈｅｂｏａｒｄｌｅｖｅｌＢＩＳＴｄｅｓｉｇｎｍｅｔｈｏｄｆｏｒｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙｐｒｏｄ ｕｃｔ．Ｏｎｔｈｅｂａｓｉｓｏｆｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙｄｅｓｉｇｎｔｈｅｏｒｙ，ａｂｏａｒｄｌｅｖｅｌｍｉｘｅｄｃｉｒｃｕｉｔｐｌａｔｆｏｒｍｈａｓｂｅｅｎｄｅｖｅｌｏｐｅｄ，ｗｈｉｃｈｂｕｉｌｔｏｎｃｌａｓｓｉｆｉｃａｔｉｏｎｄｅｔｅｃｔｉｏｎ ａｎｄｓｅｑｕｅｎｔｉａｌｆａｕｌｔｄｉａｇｎｏｓｉｓｓｔｒａｔｅｇｉｅｓ．Ｔｈｉｓｓｙｓｔｅｍｉｓｄｉｖｉｄｅｄｉｎｔｏｆｕｎｃｔｉｏｎａｌｍｏｄｕｌｅｓａｎｄｃｉｒｃｕｉｔｆａｕｌｔｄｉａｇｎｏｓｉｓｔｏｌｏｃａｔｅｔｈｅｆａｕｌｔｓｉｎｍｏｄ ｕｌｅａｎｄｃｏｍｐｏｎｅｎｔｌｅｖｅｌ．Ｆｉｎａｌｌｙ，ｔｈｒｏｕｇｈｔｈｅａｎａｌｙｓｉｓｏｆｔｅｓｔｒｅｓｕｌｔｓｏｆｐｌａｔｆｏｒｍ，ｉｔｐｏｉｎｔｓｏｕｔａｇｏｏｄｄｉｒｅｃｔｉｏｎｏｆｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙｄｅｓｉｇｎａｎｄＢＩＳＴ ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｒｅｓｅａｒｃｈ． Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙｄｅｓｉｇｎ；ｍｉｘｅｄｃｉｒｃｕｉｔ；ｆａｕｌｔｄｉａｇｎｏｓｉｓ；ＢＩＳＴ 复杂性，减少使用保障费用，从而降低费用。 １　引言 对于一个具体的系统来说，可测性设计的主要任务是在 可测试性是一门新型学科和技术，其发展和应用对于提 尽可能少的附加硬件和软件的基础上，以最少的费用使系统 高产品的工作质量，确保设备的安全运行，降低产品的全寿 具备要的状态监控、故障检测和故障隔离的可测性要求，进 命周期费用具有重要意义。在产品设计阶段，可对产品设计 而达到提高系统任务可靠性和可用性，降低寿命周期费用的 原型进行虚拟测试，验证设计方案，排除可能的设计缺陷；在 最终设计目标。 产品生产阶段，可对产品进行全面测试，排除产品的潜在故 ２．２　可测性设计的原则与规范 障，提高其质量和可靠性；在产品使用阶段，则可通过事先配 可测性设计最主要的两个内容是固有可测性的设计和 置的状态监测功