组件几项常规实验介绍.pptx

组件几项常规可靠性实验介绍 许理东—2014.1.8 目录 TC200 TC50+HF10 PID测试 LID DH1000 TC200 TC200：冷热循环实验 目 的： 要 求：组件在-40 ℃～85℃之间循环200次，在温度超过25 ℃对组件通入Ipm，并 对组件的电流连续性和温度进行监控 标 准：组件测试后外观完好、最大功率衰减＜5%，湿漏电及绝缘性40MΩ· ㎡ （溶液要求表面张力 ＜0.03N/m，电阻率＜3500 Ω·cm，温度为22 ±3 ℃） DH1000 DH1000：组件双85实验，组件在85℃、 85％RH条件下进行测试 目 的： 要 求：组件在温度85℃±2℃、 湿度85％±5％的条件下，测试1000h 标 准：组件测试后外观完好、最大功率衰减＜5%，湿漏电及绝缘性40MΩ· ㎡ （溶液要求表面张力 ＜0.03N/m，电阻率＜3500 Ω·cm，温度为22 ±3 ℃） TH50+HF10 TH50+HF10： 目 的： 要 求 ：组件在-40 ℃～85℃之间循环50圈，最高和最低之间的温度变化速率不超过 100℃/h，每个极端条件下应保持稳定至少10min，一次循环不超过6h，然后 直接却换-40 ℃～85℃之间循环10圈, 85℃下应保持稳定至少20h，低温-40 ℃ 最少保持0.5h一次循环不超过24h。在高温阶段加85％RH，并对组件的电流连 续性和温度进行监控 标 准：组件测试后外观完好、最大功率衰减＜5%，湿漏电及绝缘性40MΩ· ㎡ （溶液要求表面张力 ＜0.03N/m，电阻率＜3500 Ω·cm，温度为22 ±3 ℃） PID测试 PID测试：潜在的电势诱导衰减 目 的： 要 求：组件在85℃ 、85％RH通入反向1000V电压，持续96H 标 准：功率衰减值＜5%，EL无异常 LID测试 LID测试： 目 的： 要 求： 标 准：功率衰减值＜5%，EL无异常