5G毫米波天线快速测量系统-GTS-深圳市通用测试系统有限公司.PDFVIP

精 简 迅 捷 5G 毫米波天线快速测量系统 DM 1900 GENERAL TEST ｜产品手册 ｜DM-1900 随着近期3GPP Release 16 的正式发布，毫米波段相控阵技术在5G 中的重要作用已是共识。 Sub-6GHz 应用虽有覆盖区域广的优势，依然无法满足未来5G 典型应用场景的需求，如增强型 移动宽带（eMBB）、海量物联网连接（mMTC）和高可靠、低时延通信（uRLLC）等。分析表明， 在现有网络架构与热点区域连接采用毫米波相控阵技术的模式某种程度上更具可行性。5G 毫 米波相控阵技术的应用已经不可避免，其测试需求和挑战成为不得不面对的问题。 5G NR 设备及系统的测量挑战首先在于无线技术的革新，其中通信频率和天线技术改变是主要 因素。无论是芯片、终端，还是基站测试都将面临新的问题。 1. 芯片测试 传统的芯片测试主要采用传导方式，在毫米波段，空间和成本限制使得天线与芯片一体化设计 成为必然趋势，芯片尺寸大大减小，已没有足够的空间连接射频接头，传统的芯片测试变为通 过相控阵天线连接的OTA 测试成为必然选择。 2. 终端测试 5G 的全频段接入和MIMO 技术应用使得终端传统天线与相控阵天线并存，而相控阵天线的应用 导致终端工作状态的多样化，极大增加了测试复杂性。 3. 基站测试 相比于终端，基站中相控阵单元的数量大大增加，除了传统的基站射频一致性测试，天线性能 测试变得更加困难，多波位状态的测试和极窄波束导致的采样密度增加极大增加测量时间。 5G 应用场景意味着爆发式增长的终端和设备，大量的测试需求和单个设备测试复杂度的巨大 矛盾，将是5G 测量即将面临的最大的问题，高精度快速测量系统将成为核心需求之一。 1. 远场测量 2 远场测量（R≥2D / λ，其中R=测试距离，D=被测件尺寸，λ=工作波长）是天线测量的基本方 法，具有测量方案简单、测量结果准确的特点。但远场条件往往使得测试系统庞大，造价高， 尤其到毫米波段，稍大的被测件需要的远场距离已经变得难以接受（成本，动态范围等），如 表1 所示，因此其更适用于某些小型被测件（D 较小）在低频（λ较大）时的测量。 1/9 GENERAL TEST ｜产品手册 ｜DM-1900 表1 远场距离 图2 紧缩场系统示意图 2. 紧缩场测量 紧缩场测量方法是一种可以在近场距离内实现类似远场测量效果的直接测量法。它是利用弧形 反射面将球面波转化为平面波，从而在较小的空间内实现类似远场的效果，如图2。但由于反 射面会导致交叉极化恶化，加上探头自身交叉极化影响，使得测量值存在较大不确定性，并由 于其需要被测件做两轴旋转，夹持困难，不太适用于较大被测件。该方法在实现中反射面加工 精度要求极高，系统整体造价昂贵。 3. 近场测量 近场测量指的是在被测件感应近场与远场之间的辐射近场（菲涅尔区）进行采样（平面、柱面、 球面）并变换到远场的间接测量方法。在辐射近场，除了零点和较低的旁瓣之外，天线方向图 已经基本成型，通过基于模式理论的傅里叶展开可以较为准确地推出远场方向图，目前已大量 应用于传统天线测量和OTA 测量。因其在近场进行数据采样，可大大减小暗室尺寸。 图3 辐射近场（菲涅尔区）示意图 2/9 GENERAL TEST ｜产品手册 ｜DM