x射线衍射分析应用晶格常数.pptVIP

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  • 2019-03-14 发布于浙江
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第四章x射线衍射分析应用 物质对x射线的衍射产生了衍射花样或衍射谱,对于给定的单晶试样,其衍射花样与入射线的相对取向及晶体结构有关;对于给定的多晶体也有特定的衍射花样。衍射花样具有三要素:衍射线(或衍射斑)的位置、强度和线型。测定衍射花样三要素在不同状态下的变化,是衍射分析应用的基础。 基于衍射位置的应用 ⑴ 点阵参数的精确测定,膨胀系数的测定; ⑵ 第一类(即宏观残余)应力的测定; ⑶ 由点阵参数测定相平衡图中的相界; ⑷ 晶体取向的测定; ⑸ 固溶体类型的测定,固溶体组分的测定; ⑹ 多晶材料中层错几率的测定; ⑺ 点缺陷引起的Bragg峰的漂移。 基于衍射强度测量的应用 (1) 物相的定量分析,结晶度的测定 (2) 平衡相图的相界的测定; (3) 第三类应力的测定; (4) 有序固溶体长程有序度的测定; (5) 多晶体材料中晶粒择优取向的极图、反极图和三维取向分布的测定; (6) 薄膜厚度的测定。 基于衍射线型分析的应用 (1) 多晶材料中位错密度的测定,层错能的测定, 晶体缺陷的研究; (2) 第二类(微观残余)应力的测定; (3) 晶粒大小和微应变的测定; 基于衍射位置和强度的测定 (1) 物相的定性分析 (2) 相消失法测定相平衡图中的相界; (3) 晶体(相)结构,

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