基于微机的边界扫描测试仪器的设计与实现-模式识别与智能系统专业论文.docxVIP

华中科技大学硕士学位论文摘 华中科技大学硕士学位论文 摘 要 f边界扫描测试技术是一种可测性设计技术，可用于实现低成本的芯片级、板级甚 至系统级的电路测试和故障诊断。随着集成电路设计和制造工艺的不断进步，边界扫 描测试技术正得到越来越多的关注。国际上一些大公司已推出了各自支持边界扫描测 试的测试设备，但由于它们价格较高而且软件界面使用英文，所以从成本和操作上考 虑，不适于在国内使用。国内目前已存在的边界扫描测试仪器不具备测试代码的自动 生成能力，对于实际的边界扫描测试应用而言，人工编写测试代码的工作量较大，使 用起来不是很方便。为了满足芯片和印制电路板的测试需要，我们设计一种通用且成 本低的基于微机的边界扫描测试仪器。、) j 本文在分析边界扫描测试技术的基本原理及IEEEll49．1标准的基础上，提出并 讨论了一种基于微机的边界扫描测试仪器的设计方案。完成了产生测试信号的JTAG 主控器的逻辑设计并用FPGA器件实现了这～设计，设计了一种基于PCI总线的边晃 扫描测试装置及相应的监控软件，使PC机通过PCI总线在内存和共享存储器之间传 输测试代码和测试响应数据，并实现对测试过程的控制和监测。研究并提出了一种边 界扫描测试代码的自动生成方法。最后，完成了仪器的软硬件调试，并通过对LS—MPP 处理机的处理元芯片的测试对所设计的基于微机的边界扫描测试仪器进行了验证。 I调试和测试实验的结果表明，这种基于微机的边界扫描测试仪器产生的测试信号 完全满足IEEEll49．1标准的时序要求，可用于集成电路和印制电路板的边界扫描测 试。l 【关键词】集成电路测试j边界扫描，自动测试设备j测试代码自动生成 FPGA Pc妥 华中科技大学硕士学位论文ABSTRACT 华中科技大学硕士学位论文 ABSTRACT Boundary—scan testing technology is a Design-for—Testability technique to implement low—cost test application for the detection and diagnosis of different faults at chip level， board level or system level．With IC(Integrated Circuit)design and manufacturing technologies advancing，boundary—scan technique is attracting more and HIOre interest and applications Recently，many large electronic corporations have developed their own testing equipments to support boundary·scaB．test．Owe to their high COSt and operational inconvenience caused by the interfaces composed in English，however，the equipments are not suitable to be used in China．The domestic boundary—scan testers have not the abilities for automated test pattern generating．So，they are not convenient to use in the actual boundary·SCan testing，where the work will be very hard to compose the test Set manually． To meet the requirements for IC and PCB(Printed Circuit Board)test，we aim tO design a versatile low-cost PC-based boundary SCan tester． The paper introduces the principles of boundary—SCan technology and the standard of IEEEl 149．1，puts forward and discusses the design of a PC—based boundary—SCan testeL The logic design of the JTAG controller is completed，which